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用于传感器校准与测试的转台系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610083815.X
申请日
:
2016-02-05
公开(公告)号
:
CN105737855B
公开(公告)日
:
2016-07-06
发明(设计)人
:
吴欢欢
符强
魏建中
申请人
:
申请人地址
:
310012 浙江省杭州市黄姑山路4号
IPC主分类号
:
G01C2500
IPC分类号
:
代理机构
:
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人
:
刘锋;高青
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-08-03
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101672627154 IPC(主分类):G01C 25/00 专利申请号:201610083815X 申请日:20160205
2019-05-21
授权
授权
2016-07-06
公开
公开
共 50 条
[1]
用于传感器校准与测试的转台系统
[P].
吴欢欢
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吴欢欢
;
符强
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符强
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魏建中
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魏建中
.
中国专利
:CN205506072U
,2016-08-24
[2]
一种用于传感器校准与测试的转台系统
[P].
朱鹏伟
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朱鹏伟
.
中国专利
:CN211317366U
,2020-08-21
[3]
用于加速度计校准与测试的转台系统
[P].
吴欢欢
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吴欢欢
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符强
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符强
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蒋登峰
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蒋登峰
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魏建中
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魏建中
.
中国专利
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,2015-04-29
[4]
一种用于姿态传感器校准的三轴转台测试系统
[P].
臧帅
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臧帅
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朱勇
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朱勇
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李松
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李松
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裴新平
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裴新平
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袁彬
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袁彬
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郑晓彤
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郑晓彤
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吕繁
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吕繁
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李秀鑫
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李秀鑫
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朱俊航
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朱俊航
.
中国专利
:CN216283553U
,2022-04-12
[5]
一种用于姿态传感器校准的三轴转台测试系统
[P].
方正
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机构:
联合仪器(武汉)有限公司
联合仪器(武汉)有限公司
方正
;
崔宇轩
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机构:
联合仪器(武汉)有限公司
联合仪器(武汉)有限公司
崔宇轩
.
中国专利
:CN220625330U
,2024-03-19
[6]
用于透析系统的传感器校准
[P].
A.王
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A.王
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F.王
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F.王
;
M.J.克恩科维奇
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M.J.克恩科维奇
.
中国专利
:CN107847651A
,2018-03-27
[7]
地磁传感器校准与测试装置
[P].
鞠洪德
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鞠洪德
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李健
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李健
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蔡文龙
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蔡文龙
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金玲
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金玲
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李成垒
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李成垒
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罗文元
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罗文元
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于文静
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于文静
.
中国专利
:CN108387950A
,2018-08-10
[8]
用于加速度计校准与测试的转台系统
[P].
吴欢欢
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吴欢欢
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符强
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符强
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蒋登峰
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蒋登峰
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魏建中
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魏建中
.
中国专利
:CN204405697U
,2015-06-17
[9]
用于传感器校准的系统和方法
[P].
M·阿吉亚尔
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M·阿吉亚尔
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N·维因斯泰恩
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N·维因斯泰恩
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E·沃尔夫
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张洵铣
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B·罗伊
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杨一凡
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A·巴加特
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D·巴特沃斯
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A·莎尔玛
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A·莎尔玛
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韦峻青
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韦峻青
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中国专利
:CN114556139A
,2022-05-27
[10]
用于传感器校准的系统和方法
[P].
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N·维因斯泰恩
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M·萨普安
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杨一凡
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美国专利
:CN114556139B
,2025-10-10
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