反射光生成组件、磁性测量系统及磁性测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110480441.6
申请日
2021-04-30
公开(公告)号
CN113238175A
公开(公告)日
2021-08-10
发明(设计)人
尉国栋 李燊
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
G01R3312
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
赵平;叶明川
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
磁性测量装置及交变梯度磁性测量系统 [P]. 
赵军彪 ;
孙东领 ;
张学莹 .
中国专利 :CN223450135U ,2025-10-17
[2]
反射光功率测量系统 [P]. 
戴悦 ;
高超 ;
严永海 .
中国专利 :CN223361588U ,2025-09-19
[3]
磁性流体密封力矩测量装置、测量系统和测量方法 [P]. 
李德才 ;
李振坤 .
中国专利 :CN113218549B ,2021-08-06
[4]
漫反射光谱测量装置及测量方法 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
李胜 ;
赵丕成 ;
汤海涛 .
中国专利 :CN109444082B ,2024-06-07
[5]
漫反射光谱测量装置及测量方法 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
李胜 ;
赵丕成 ;
汤海涛 .
中国专利 :CN109444082A ,2019-03-08
[6]
一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法 [P]. 
刘双迟 ;
秦华峰 ;
王华沛 ;
刘青松 ;
朱日祥 .
中国专利 :CN103353614A ,2013-10-16
[7]
单频率脉冲磁性测量方法 [P]. 
韩小涛 ;
黄硕 ;
陆俊 .
中国专利 :CN119575264A ,2025-03-07
[8]
单频率脉冲磁性测量方法 [P]. 
韩小涛 ;
黄硕 ;
陆俊 .
中国专利 :CN119575264B ,2025-09-12
[9]
双光路单光栅的漫射照明反射光谱测量系统及测量方法 [P]. 
袁琨 ;
王聪 ;
高世芝 .
中国专利 :CN102879096A ,2013-01-16
[10]
岩心组件、测量系统及测量方法 [P]. 
陈浩 ;
周涛 ;
吴天鹏 ;
冯江荣 ;
樊怀才 ;
田亚凯 ;
朱怡晖 ;
张鉴 ;
常程 .
中国专利 :CN112432875B ,2021-03-02