一种CIS参数校正方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710945793.8

申请日：

2017-10-12

公开(公告)号：

CN107707846B

公开(公告)日：

2018-02-16

发明(设计)人：

胡钦惠

申请人：

申请人地址：

518038 广东省深圳市南山区后海大道2388号怡化金融科技大厦26楼

IPC主分类号：

H04N5378

IPC分类号：

H04N1700

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

潘登

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 5/378 申请日:20171012
2020-08-18	授权	授权
2018-02-16	公开	公开

共 50 条

[1]

湿度参数校正方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨和澄 ;

张鸿宙 ;

郭锦 ;

杨达 .

中国专利 :CN120253960A ,2025-07-04

[2]

湿度参数校正方法、装置、设备及存储介质 [P].

杨和澄 ;

张鸿宙 ;

郭锦 ;

杨达 .

中国专利 :CN120253960B ,2025-09-12

[3]

一种参数校正方法、装置、设备及可读存储介质 [P].

邹小龙 .

中国专利 :CN117461911A ,2024-01-30

[4]

参数校正方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱茂琳 ;

陈培杰 ;

赖长禄 .

中国专利 :CN117435893A ,2024-01-23

[5]

显示屏箱体参数校正方法及装置、设备、存储介质 [P].

陈林 ;

夏大学 ;

杨剑锋 .

中国专利 :CN112669769A ,2021-04-16

[6]

显示屏箱体边缘参数校正方法及装置、设备、存储介质 [P].

陈林 ;

杨剑锋 ;

夏大学 .

中国专利 :CN112634823B ,2021-04-09

[7]

折弯属性参数校正方法、系统、设备及存储介质 [P].

刘胜波 ;

李天明 ;

周海陶 ;

吴积荣 ;

卿朝廷 ;

刘松林 ;

李东 ;

童亚威 .

中国专利 :CN119076701B ,2025-09-19

[8]

折弯属性参数校正方法、系统、设备及存储介质 [P].

刘胜波 ;

李天明 ;

周海陶 ;

吴积荣 ;

卿朝廷 ;

刘松林 ;

李东 ;

童亚威 .

中国专利 :CN119076701A ,2024-12-06

[9]

一种工程尾流模型参数校正方法、装置、设备及存储介质 [P].

马奎超 ;

樊庆洋 ;

陈银鹏 ;

成世杰 ;

魏超 ;

王强 ;

孙凯 ;

肖盛忠 ;

黄仪灵 ;

张伟 ;

王晓东 .

中国专利 :CN118332831B ,2024-08-20

[10]

一种参数校正方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

王晓江 ;

王侃磊 ;

沈林杰 .

中国专利 :CN112837227A ,2021-05-25

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