一种磁体磁场测量方法及测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110309634.5

申请日：

2021-03-23

公开(公告)号：

CN113075597B

公开(公告)日：

2021-07-06

发明(设计)人：

杨刚陈一民

申请人：

申请人地址：

110169 辽宁省沈阳市浑南区创新路195号

IPC主分类号：

G01R3310

IPC分类号：

G01R3312 G01R3306

代理机构：

北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613

代理人：

韩国胜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	公开	公开
2022-05-06	授权	授权
2021-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/10 申请日:20210323

共 50 条

[1]

一种磁体磁场角度测量系统和测量方法 [P].

陈艳 .

中国专利 :CN101526589A ,2009-09-09

[2]

一种磁场测量系统及测量方法 [P].

肖池阶 ;

宗秋刚 ;

于向前 ;

刘斯 ;

曲亚楠 ;

施伟红 ;

陈鸿飞 ;

邹鸿 ;

王永福 ;

周率 .

中国专利 :CN109870664A ,2019-06-11

[3]

磁场测量系统和磁场测量方法 [P].

荣星 ;

代映秋 ;

陈明 .

中国专利 :CN110873851A ,2020-03-10

[4]

一种磁场测量方法以及磁场测量系统 [P].

孙少男 ;

尹超 ;

白东海 ;

王超 ;

孙志恒 ;

秦士滕 ;

李中涵 .

中国专利 :CN114910834B ,2022-08-16

[5]

微波磁场测量方法及微波磁场测量系统 [P].

王哲成 ;

孔飞 ;

赵鹏举 ;

石发展 ;

杜江峰 .

中国专利 :CN114720919A ,2022-07-08

[6]

磁场穿透深度测量系统及测量方法 [P].

张若舟 ;

秦明阳 ;

史秋艳 ;

袁洁 ;

金魁 .

中国专利 :CN117388779A ,2024-01-12

[7]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

芳井义治 ;

水落宪和 .

中国专利 :CN110673066A ,2020-01-10

[8]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

芳井义治 ;

水落宪和 .

日本专利 :CN110673066B ,2024-07-05

[9]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

周建新 ;

康文 ;

陈福三 .

中国专利 :CN119619927A ,2025-03-14

[10]

一种铁磁体剩磁的测量系统及测量方法 [P].

张海鹏 ;

任丽 ;

徐颖 ;

石晶 ;

李敬东 ;

唐跃进 .

中国专利 :CN116148734B ,2025-09-05

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