一种二次离子质谱定量分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN91107523.2

申请日：

1991-11-06

公开(公告)号：

CN1030231C

公开(公告)日：

1992-04-22

发明(设计)人：

宋玲根张永夏宗祥福

申请人：

申请人地址：

200433上海市邯郸路220号

IPC主分类号：

G01N2322

IPC分类号：

代理机构：

复旦大学专利事务所

代理人：

王福新;姚静芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1992-04-22	公开	公开
1992-04-01	实质审查请求已生效的专利申请	实质审查请求已生效的专利申请
1995-11-08	授权	授权
1996-12-18	专利权的终止未缴年费专利权终止	专利权的终止未缴年费专利权终止

共 50 条

[1]

一种用于离子迁移谱的定量分析方法 [P].

王新 ;

李海洋 ;

鞠帮玉 ;

周庆华 .

中国专利 :CN106198704A ,2016-12-07

[2]

定量分析方法 [P].

朱爱淑 ;

刘海军 ;

徐友海 ;

王秀萍 ;

袁伟 .

中国专利 :CN105699499A ,2016-06-22

[3]

一种用于二次离子质谱的快速分析系统及方法 [P].

孙良亭 ;

孙卫东 ;

李明睿 ;

卢家琪 ;

冯文天 ;

郭玉辉 ;

姚庆高 ;

高大庆 ;

赵红卫 .

中国专利 :CN115236168B ,2025-08-19

[4]

一种用于离子迁移谱的定量分析方法 [P].

王新 ;

李海洋 ;

鞠帮玉 ;

李京华 ;

李东明 .

中国专利 :CN108072689A ,2018-05-25

[5]

一种用于动态二次离子质谱(D-SIMS)分析的样品制备方法 [P].

刘嘉辉 ;

徐欢 ;

朱雷 ;

赵弇斐 ;

郑海鹏 ;

华佑南 ;

李晓旻 .

中国专利 :CN112229699B ,2021-01-15

[6]

一种二次离子质谱的一次离子源 [P].

王亮 ;

徐福兴 ;

丁传凡 .

中国专利 :CN101894727A ,2010-11-24

[7]

定量分析方法及定量分析装置 [P].

坂本雄纪 .

日本专利 :CN116087398B ,2025-04-08

[8]

定量分析方法和定量分析装置 [P].

藤部康弘 ;

相本道宏 .

日本专利 :CN119768683A ,2025-04-04

[9]

基于质谱的抗体通用的定量分析方法 [P].

殷薛飞 ;

毕克楠 .

中国专利 :CN119780296A ,2025-04-08

[10]

微量金属离子的定量分析方法 [P].

白长敏 ;

刘中民 ;

徐云鹏 ;

陈兆安 .

中国专利 :CN110068496A ,2019-07-30

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