共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
试样测定装置、程序及测定参数设定支持装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201880099710.0
申请日：
2018-11-29
公开(公告)号：
CN113167776A
公开(公告)日：
2021-07-23
发明(设计)人：
野田阳
申请人：
申请人地址：
日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
IPC主分类号：
G01N3086
IPC分类号：
G01N3002
G01N3052
代理机构：
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人：
薛恒;徐川
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-07-23 | 公开 | 公开 |
| 2021-08-10 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 30/86 申请日:20181129 |