用于对测量仪进行校准的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580024468.7

申请日：

2015-05-13

公开(公告)号：

CN106574834B

公开(公告)日：

2017-04-19

发明(设计)人：

G.贝尔 C.普鲁斯 W.奥施滕

申请人：

申请人地址：

德国格廷根

IPC主分类号：

G01B2104

IPC分类号：

G01B902

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

杨国治;张昱

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101719986363 IPC(主分类):G01B 21/04 专利申请号:2015800244687 申请日:20150513
2019-09-20	授权	授权
2017-04-19	公开	公开

共 50 条

[1]

用于对散射光测量仪进行校准的装置 [P].

K.施滕格尔 ;

A.马托伊西 ;

G.哈加 ;

M.纽恩多夫 ;

R.霍斯 ;

D.施特拉克 .

中国专利 :CN104053981B ,2014-09-17

[2]

测量仪校准法、测量仪及用于该测量仪并执行所述方法的校准装置 [P].

于尔格·威隆曼 .

中国专利 :CN1271390C ,2004-05-26

[3]

用于对机动车外廓尺寸测量仪进行校准的装置 [P].

胡坤鹏 ;

李全学 .

中国专利 :CN211391297U ,2020-09-01

[4]

用于校准扭转扭矩测量仪的方法 [P].

埃德加·海纳尔 .

中国专利 :CN103403514B ,2013-11-20

[5]

影像测量仪的校准方法 [P].

张和君 ;

常立超 ;

熊俊 ;

刘毛毛 ;

张海叶 .

中国专利 :CN114909994A ,2022-08-16

[6]

力矩测量仪校准方法 [P].

彭冬 ;

吴玉龙 ;

韩东 ;

李忠凌 ;

熊志斌 ;

魏明 ;

李超 ;

刘艳 ;

吴谦 ;

邓梦凯 .

中国专利 :CN118329289A ,2024-07-12

[7]

用于流量测量仪的校准装置 [P].

P.C.L.范布拉克尔 ;

A.J.范贝库姆 .

中国专利 :CN102213608A ,2011-10-12

[8]

用于校准坐标测量仪的装置和方法 [P].

N·哈弗坎普 .

中国专利 :CN105247319B ,2016-01-13

[9]

核子测量仪及核子测量仪的配置和校准方法 [P].

D·E.·韦格 ;

D·M.·斯特克曼 ;

R·E·特罗克斯勒 .

中国专利 :CN101981439A ,2011-02-23

[10]

用于校准面积测量仪的测量方法、测量装置、设备及介质 [P].

卢家煌 ;

黄浩 ;

王萍 ;

杨秀龙 ;

左方圆 ;

张俊康 .

中国专利 :CN119289848A ,2025-01-10

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