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一种用于检测纸张双面缺陷的纸病检测系统及检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201711411845.X
申请日
:
2017-12-23
公开(公告)号
:
CN108037138A
公开(公告)日
:
2018-05-15
发明(设计)人
:
周强
王伟刚
王亚波
陈晗
申请人
:
申请人地址
:
710021 陕西省西安市未央区大学园1号
IPC主分类号
:
G01N2189
IPC分类号
:
代理机构
:
西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人
:
徐文权
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-06-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/89 申请日:20171223
2018-05-15
公开
公开
共 50 条
[1]
纸张纸病检测系统
[P].
陈岳林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈岳林
;
陈金龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈金龙
.
中国专利
:CN101063659A
,2007-10-31
[2]
一种检测纸张缺陷检测方法及系统
[P].
尹大全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北蓝图纸业有限公司
湖北蓝图纸业有限公司
尹大全
;
涂剑飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北蓝图纸业有限公司
湖北蓝图纸业有限公司
涂剑飞
;
尹桂鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北蓝图纸业有限公司
湖北蓝图纸业有限公司
尹桂鑫
.
中国专利
:CN120765547A
,2025-10-10
[3]
一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
吴昌力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
;
郑军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
郑军
.
中国专利
:CN119290906A
,2025-01-10
[4]
一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
吴昌力
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
.
中国专利
:CN118731033A
,2024-10-01
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
茹泽伟
;
刁梁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刁梁
;
付磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈鲁
;
黄有为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
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