遗留物检测方法以及交易装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710163073.2

申请日：

2007-09-29

公开(公告)号：

CN101159076A

公开(公告)日：

2008-04-09

发明(设计)人：

渡边高志永吉洋登酒匂裕柳井孝介

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G07F902

IPC分类号：

G07F1900

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司

代理人：

许静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-06-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-02-17	授权	授权
2008-04-09	公开	公开

共 50 条

[1]

遗留物检测装置及遗留物检测方法 [P].

冈谷启 ;

小岩博明 ;

网谷宪晴 .

日本专利 :CN113647097B ,2024-08-06

[2]

遗留物检测装置及遗留物检测方法 [P].

冈谷启 ;

小岩博明 ;

网谷宪晴 .

中国专利 :CN113647097A ,2021-11-12

[3]

GIS内部遗留物检测方法 [P].

李渊 ;

康钧 ;

吴对平 ;

沈洁 ;

王生富 ;

王生杰 ;

谢艳丽 ;

李军浩 .

中国专利 :CN112711023A ,2021-04-27

[4]

遗留物检测方法、装置及设备 [P].

邵新庆 ;

吴肖 ;

张磊 ;

覃晓元 .

中国专利 :CN112837326A ,2021-05-25

[5]

遗留物检测方法、装置及设备 [P].

邵新庆 ;

吴肖 ;

张磊 ;

覃晓元 .

中国专利 :CN112837326B ,2024-04-09

[6]

GIS内部遗留物检测装置 [P].

李渊 ;

康钧 ;

吴对平 ;

沈洁 ;

王生富 ;

王生杰 ;

谢艳丽 ;

李军浩 .

中国专利 :CN214150905U ,2021-09-07

[7]

遗留物检测方法及系统 [P].

刘德健 ;

赵勇 .

中国专利 :CN101231696A ,2008-07-30

[8]

遗留物检测以及模型训练方法、装置和存储介质 [P].

杨超 ;

刘念邱 .

中国专利 :CN114821551A ,2022-07-29

[9]

遗留检测装置和遗留检测方法 [P].

小川庆友树 .

日本专利 :CN112805761B ,2024-03-08

[10]

遗留检测装置和遗留检测方法 [P].

小川庆友树 .

中国专利 :CN112805761A ,2021-05-14

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