用于测量表面的装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280017957.6

申请日：

2012-03-14

公开(公告)号：

CN103459978B

公开(公告)日：

2013-12-18

发明(设计)人：

T·利林布鲁姆 W·施密特

申请人：

申请人地址：

德国马格德堡

IPC主分类号：

G01B2120

IPC分类号：

G01B2130

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

胡利鸣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-12	授权	授权
2014-01-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101562722984 IPC(主分类):G01B 21/20 专利申请号:2012800179576 申请日:20120314
2013-12-18	公开	公开

共 50 条

[1]

用于测量表面轮廓的装置和方法 [P].

贾斯廷·W·威廉 .

中国专利 :CN1898525A ,2007-01-17

[2]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

美国专利 :CN111467062B ,2024-12-06

[3]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

中国专利 :CN106794052B ,2017-05-31

[4]

用于测量表面形状轮廓的方法和装置 [P].

X·陈 ;

A·刘 ;

周乃越 .

中国专利 :CN101932903A ,2010-12-29

[5]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

中国专利 :CN111467062A ,2020-07-31

[6]

现场测量表面蒸发的装置和方法 [P].

佩尔·F·汉森 ;

奥勒·迈赫德·延森 .

中国专利 :CN1547667A ,2004-11-17

[7]

用于测量表面上的温度分布的装置和方法 [P].

T·达梅罗 .

中国专利 :CN111868490A ,2020-10-30

[8]

用于清洁表面的装置和方法 [P].

T·约瑟夫森 ;

A·赛普克 ;

C·孔蒂奥 .

中国专利 :CN101426591A ,2009-05-06

[9]

用于冷却表面的装置和方法 [P].

B·W·米拉 ;

G·C·派比奥 ;

M·K·玛尼昂 ;

M·C·C·黄 .

中国专利 :CN107072810A ,2017-08-18

[10]

用于清洁表面的装置和方法 [P].

D·A·科茨 ;

R·W·鲍曼 ;

M·A·德宾 ;

E·A·戈登 ;

A·C·斯克拉法尼 ;

A·P·通德 ;

W·H·小泰斯 ;

T·T·赫特里克 ;

D·A·布拉德肖 ;

E·A·莫勒 ;

W·J·凯勒姆 .

中国专利 :CN1768667A ,2006-05-10

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