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晶体管白噪声测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202020752334.5
申请日
:
2020-05-09
公开(公告)号
:
CN212159992U
公开(公告)日
:
2020-12-15
发明(设计)人
:
姜兰举
李强
申请人
:
申请人地址
:
132000 吉林省吉林市高新区深圳街99号
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
代理机构
:
成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310
代理人
:
唐维虎
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-12-15
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶体管测试控制电路和晶体管测试系统
[P].
徐广泽
论文数:
0
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0
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徐广泽
.
中国专利
:CN113109686B
,2021-07-13
[2]
晶体管性能测试方法及晶体管性能测试系统
[P].
艾玉石
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机构:
重庆芯联微电子有限公司
重庆芯联微电子有限公司
艾玉石
.
中国专利
:CN119986295A
,2025-05-13
[3]
晶体管噪声成份分析与测试系统
[P].
戴逸松
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戴逸松
;
张庆敏
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张庆敏
;
张新发
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张新发
;
张晓冬
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张晓冬
;
王树勋
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王树勋
.
中国专利
:CN1034275A
,1989-07-26
[4]
晶体管扫描测试系统
[P].
郭胜岩
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郭胜岩
;
冯丽平
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冯丽平
.
中国专利
:CN203838298U
,2014-09-17
[5]
晶体管测试仪
[P].
杜树鑫
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杜树鑫
.
中国专利
:CN2757145Y
,2006-02-08
[6]
晶体管测试电路以及测试方法
[P].
商广良
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商广良
;
林允植
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林允植
;
韩承佑
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韩承佑
.
中国专利
:CN104267329A
,2015-01-07
[7]
双极型晶体管低频噪声测试夹具
[P].
何黎
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何黎
.
中国专利
:CN215641355U
,2022-01-25
[8]
功率晶体管测试系统和测试方法
[P].
唐开锋
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
唐开锋
;
马荣耀
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
马荣耀
;
丁继
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
丁继
;
陈龙
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
陈龙
;
徐丹丹
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华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
徐丹丹
;
赵伟能
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
赵伟能
;
邓旻熙
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
邓旻熙
.
中国专利
:CN115343588B
,2025-04-22
[9]
功率晶体管测试系统和测试方法
[P].
唐开锋
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唐开锋
;
马荣耀
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马荣耀
;
丁继
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丁继
;
陈龙
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陈龙
;
徐丹丹
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徐丹丹
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赵伟能
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赵伟能
;
邓旻熙
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邓旻熙
.
中国专利
:CN115343588A
,2022-11-15
[10]
晶体管的测试结构以及测试方法
[P].
刘张李
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刘张李
.
中国专利
:CN103811372A
,2014-05-21
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