光干涉测定装置及光干涉测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080036899.6

申请日：

2020-05-25

公开(公告)号：

CN113892024A

公开(公告)日：

2022-01-04

发明(设计)人：

椴山誉佐佐木芳彰吉峯功大谷知行汤浅哲也

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01N2145

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

徐殿军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-04	公开	公开
2022-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/45 申请日:20200525

共 50 条

[1]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113892024B ,2025-08-15

[2]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

中国专利 :CN113853507A ,2021-12-28

[3]

光干涉测定装置及光干涉测定方法 [P].

椴山誉 ;

佐佐木芳彰 ;

吉峯功 ;

大谷知行 ;

汤浅哲也 .

日本专利 :CN113853507B ,2024-08-16

[4]

光干涉测定装置和光干涉测定方法 [P].

长滨龙也 ;

本桥研 ;

H·海特杰马 ;

J·奎达克尔斯 .

中国专利 :CN107525463A ,2017-12-29

[5]

智能光干涉气体测定装置 [P].

陈均 ;

陆飞 ;

李鹏君 .

中国专利 :CN202256150U ,2012-05-30

[6]

光波干涉测定装置及光波干涉测定方法 [P].

植木伸明 .

中国专利 :CN101126627B ,2008-02-20

[7]

剪切干涉测定方法和剪切干涉测定装置 [P].

天谷贤治 .

日本专利 :CN121002356A ,2025-11-21

[8]

光测定装置及光测定方法 [P].

铃木健吾 ;

江浦茂 ;

井口和也 .

中国专利 :CN111630373A ,2020-09-04

[9]

光测定装置及光测定方法 [P].

铃木健吾 ;

江浦茂 ;

井口和也 .

中国专利 :CN111630372A ,2020-09-04

[10]

光测定装置及光测定方法 [P].

石原元太郎 .

中国专利 :CN104422518A ,2015-03-18

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