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用于测量透明制品的光学特性的方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201780098257.7
申请日：
2017-12-28
公开(公告)号：
CN111684266A
公开(公告)日：
2020-09-18
发明(设计)人：
F·R·布莱克伯恩 J·黑兹尔
申请人：
申请人地址：
爱尔兰戈尔韦
IPC主分类号：
G01N2159
IPC分类号：
G01M1102 G02B104 G02C704
代理机构：
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人：
汪晶晶
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-09-18 公开 公开
2020-12-22 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/59 申请日:20171228
共 50 条
[1]
用于测量透明制品的光学特性的方法 [P]. 
F·R·布莱克伯恩 ;
J·黑兹尔 .
:CN111684266B ,2024-08-06
[2]
用于测量隐形眼镜的光学特性的方法和系统 [P]. 
F·R·布莱克伯恩 ;
J·黑兹尔 ;
P·马丁 .
中国专利 :CN111670350B ,2020-09-15
[3]
用于确定光学透明的基板的光学特性的设备和覆层设施 [P]. 
拉尔夫·施佩林 .
德国专利 :CN120641738A ,2025-09-12
[4]
光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P]. 
前田穣 .
中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16
[5]
用于测量物体的光学特性的设备 [P]. 
伯恩德特·沃姆 ;
斯蒂芬·施密特 ;
克劳迪娅·格舍博特 ;
克里斯托夫·德尼茨基 .
中国专利 :CN103415243A ,2013-11-27
[6]
用于测量物体的光学特性的方法和系统 [P]. 
瓦格纳·塔瓦雷斯·布欧诺 ;
凯尚·辛格 ;
安德鲁·福布斯 ;
安吉拉·达德利 .
:CN118215834A ,2024-06-18
[7]
透明基体的光学特性的评价方法、光学装置 [P]. 
妹尾具展 ;
小林裕介 ;
大神聪司 .
中国专利 :CN105074507A ,2015-11-18
[8]
评价透明基体的光学特性的方法 [P]. 
玉田稔 ;
小林裕介 ;
妹尾具展 .
中国专利 :CN105008888A ,2015-10-28
[9]
评价透明基体的光学特性的方法 [P]. 
玉田稔 ;
小林裕介 .
中国专利 :CN110057547A ,2019-07-26
[10]
光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P]. 
山崎雄介 ;
冈本宗大 .
中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06
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