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一种金膜电容的耐热性检测设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201820030926.9
申请日：
2018-01-09
公开(公告)号：
CN207689608U
公开(公告)日：
2018-08-03
发明(设计)人：
王君
薛光明
申请人：
申请人地址：
200135 上海市奉贤区环城北路358号5幢二层A区
IPC主分类号：
G01R3101
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-08-03 | 授权 | 授权 |
| 2020-01-24 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/01 变更事项:专利权人 变更前:上海润璋电气设备有限公司 变更后:上海润璋智能科技股份有限公司 变更事项:地址 变更前:200135 上海市奉贤区环城北路358号5幢二层A区 变更后:200135 上海市奉贤区环城北路358号5幢二层A区 |
| 2022-12-20 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/01 申请日:20180109 授权公告日:20180803 终止日期:20220109 |