对检查对象进行高分辨率微分相衬成像的X射线拍摄系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410320900.4

申请日：

2014-07-04

公开(公告)号：

CN104274198A

公开(公告)日：

2015-01-14

发明(设计)人：

M.霍黑塞尔 K.克林根贝克

申请人：

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

G01N2304

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

任宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-14	授权	授权
2015-01-14	公开	公开
2020-06-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20140704 授权公告日:20181214 终止日期:20190704
2016-08-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101672303557 IPC(主分类):A61B 6/03 专利申请号:2014103209004 申请日:20140704

共 50 条

[1]

用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统 [P].

卡里姆·S·卡里姆 ;

克里斯托弗·C·斯科特 .

中国专利 :CN111465840A ,2020-07-28

[2]

X射线微分相衬显微成像系统及成像方法 [P].

朱佩平 ;

洪友丽 ;

张凯 ;

袁清习 ;

黄万霞 ;

吴自玉 .

中国专利 :CN103364416B ,2013-10-23

[3]

用于X射线光栅微分相衬成像的X射线源 [P].

牛憨笨 ;

李冀 ;

黄建衡 .

中国专利 :CN104034741A ,2014-09-10

[4]

高分辨率显微成像系统 [P].

邵永红 ;

汪磊 ;

栗向 ;

朱海闯 ;

屈军乐 .

中国专利 :CN109387496A ,2019-02-26

[5]

一种用于X射线相衬成像的高分辨率平板探测器 [P].

刘权 .

中国专利 :CN213340377U ,2021-06-01

[6]

高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法 [P].

朱佩平 .

中国专利 :CN104095645A ,2014-10-15

[7]

用于采用分布式源进行X射线成像的高分辨率准静态设置 [P].

G·福格特米尔 ;

J·布雷多诺 ;

J·威斯 .

中国专利 :CN101951837B ,2011-01-19

[8]

高分辨率X射线衍射方法和装置 [P].

D·贝克尔斯 ;

亚历山大·哈尔陈科 ;

米伦·加特什基 ;

尤金·鲁维坎普 .

中国专利 :CN108572184B ,2018-09-25

[9]

高分辨率X射线像增强器视觉系统 [P].

曹捷 ;

张国琦 ;

麻树波 .

中国专利 :CN201083701Y ,2008-07-09

[10]

一种高分辨率成像系统 [P].

杨乐宝 ;

王宏达 .

中国专利 :CN214384623U ,2021-10-12

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