离子阱质谱仪的质谱测定方法

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专利类型
发明
申请号
CN201811651515.2
申请日
2018-12-31
公开(公告)号
CN109752444B
公开(公告)日
2019-05-14
发明(设计)人
段炼 马乔 刘立鹏 韩双来
申请人
申请人地址
310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
IPC主分类号
G01N2762
IPC分类号
G01N3072
代理机构
北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙) 11720
代理人
孙敬文
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
离子阱质谱仪 [P]. 
A·沃伦奇科夫 .
中国专利 :CN102884608A ,2013-01-16
[2]
质谱仪和质谱测定方法 [P]. 
罗伯特·哈罗德·巴特曼 ;
杰弗里·马克·布朗 ;
马丁·格伦 ;
詹森·李·维尔德古斯 ;
安东尼·詹姆斯·吉尔伯特 ;
史蒂文·德里克·普林格尔 .
中国专利 :CN101496130B ,2009-07-29
[3]
离子阱质谱仪 [P]. 
渠团帅 ;
侯可勇 ;
王爽 ;
李海洋 .
中国专利 :CN303947113S ,2016-11-30
[4]
离子阱质谱仪 [P]. 
刘建魁 .
中国专利 :CN217158108U ,2022-08-09
[5]
一种用于质谱的新型离子阱及质谱仪 [P]. 
鲁信琼 ;
李子威 ;
张家雷 .
中国专利 :CN114823276A ,2022-07-29
[6]
一种用于质谱的新型离子阱及质谱仪 [P]. 
鲁信琼 ;
李子威 ;
张家雷 .
中国专利 :CN217544537U ,2022-10-04
[7]
基于双线性离子阱质谱仪的离子分析方法 [P]. 
欧阳证 ;
蔡志军 ;
范晓敏 ;
郭翔宇 .
中国专利 :CN119725068A ,2025-03-28
[8]
质谱离子源及质谱仪 [P]. 
杜永光 ;
王后乐 ;
张小华 ;
张华 ;
洪俊龙 .
中国专利 :CN203300595U ,2013-11-20
[9]
质谱离子源及质谱仪 [P]. 
杜永光 ;
王后乐 ;
张小华 ;
张华 ;
洪俊龙 .
中国专利 :CN104124131A ,2014-10-29
[10]
离子阱质谱仪的离子隔离方法、系统及介质 [P]. 
薛兵 ;
孙露露 ;
路同山 ;
胡波 ;
唐朝阳 ;
王玉涵 ;
罗勇 ;
李飞 ;
陈延龙 .
中国专利 :CN114388334A ,2022-04-22