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光检测器件及其制造方法
被引:0
申请号
:
CN202110242570.1
申请日
:
2021-03-04
公开(公告)号
:
CN114361271A
公开(公告)日
:
2022-04-15
发明(设计)人
:
朴昌泳
李相勋
申请人
:
申请人地址
:
韩国京畿道
IPC主分类号
:
H01L310232
IPC分类号
:
H01L31105
H01L27144
H01L3118
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
周祺
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-15
公开
公开
共 50 条
[1]
光检测器件、光器件及其制造方法
[P].
周淳朴
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周淳朴
;
卓联洲
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卓联洲
;
宋巍巍
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宋巍巍
.
中国专利
:CN113066808A
,2021-07-02
[2]
光检测器件、光器件及其制造方法
[P].
周淳朴
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
周淳朴
;
卓联洲
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卓联洲
;
宋巍巍
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
宋巍巍
.
中国专利
:CN113066808B
,2025-01-17
[3]
光检测器件及制作光检测器件的方法
[P].
皮埃尔·吉东
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皮埃尔·吉东
;
伯努瓦·吉夫哈德
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伯努瓦·吉夫哈德
;
诺贝特·穆塞西
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诺贝特·穆塞西
.
中国专利
:CN102473713A
,2012-05-23
[4]
检测器件制造方法、检测器件和检测系统
[P].
藤吉健太郎
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藤吉健太郎
;
望月千织
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望月千织
;
渡边实
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渡边实
;
大藤将人
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大藤将人
;
横山启吾
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横山启吾
;
川锅润
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川锅润
;
和山弘
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和山弘
.
中国专利
:CN102810548B
,2012-12-05
[5]
检测器件制造方法、检测器件和检测系统
[P].
藤吉健太郎
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藤吉健太郎
;
望月千织
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望月千织
;
渡边实
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渡边实
;
大藤将人
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大藤将人
;
横山启吾
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横山启吾
;
川锅润
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川锅润
;
和山弘
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和山弘
.
中国专利
:CN102810547A
,2012-12-05
[6]
光检测器件
[P].
长谷川浩一
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长谷川浩一
.
中国专利
:CN112687713A
,2021-04-20
[7]
光检测器件
[P].
长谷川浩一
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
长谷川浩一
.
日本专利
:CN112687713B
,2025-01-14
[8]
光检测器件及其驱动方法以及电子装置
[P].
富樫秀晃
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机构:
索尼公司
索尼公司
富樫秀晃
;
古闲史彦
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机构:
索尼公司
索尼公司
古闲史彦
;
山口哲司
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索尼公司
索尼公司
山口哲司
;
平田晋太郎
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索尼公司
索尼公司
平田晋太郎
;
渡部泰一郎
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索尼公司
索尼公司
渡部泰一郎
;
安藤良洋
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机构:
索尼公司
索尼公司
安藤良洋
.
日本专利
:CN113658965B
,2024-03-19
[9]
光检测器件及其驱动方法以及电子装置
[P].
富樫秀晃
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富樫秀晃
;
古闲史彦
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古闲史彦
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山口哲司
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山口哲司
;
平田晋太郎
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平田晋太郎
;
渡部泰一郎
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渡部泰一郎
;
安藤良洋
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安藤良洋
.
中国专利
:CN113658965A
,2021-11-16
[10]
光检测器件及电子装置
[P].
桝田佳明
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桝田佳明
;
宫波勇树
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宫波勇树
;
阿部秀司
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阿部秀司
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平野智之
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平野智之
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山口征也
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山口征也
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蛯子芳树
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蛯子芳树
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渡边一史
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渡边一史
;
荻田知治
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荻田知治
.
中国专利
:CN111799290A
,2020-10-20
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