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直接投射式光电挠度位移测量装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN01206766.0
申请日：
2001-07-07
公开(公告)号：
CN2532475Y
公开(公告)日：
2003-01-22
发明(设计)人：
朱永
陈伟民
黄尚廉
符欲梅
申请人：
申请人地址：
400044重庆市沙坪坝区重庆大学光电工程学院（A区）
IPC主分类号：
G01N308
IPC分类号：
代理机构：
重庆创新专利事务所有限公司
代理人：
张先芸
法律状态：
专利权的终止未缴年费专利权终止
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2005-08-31 | 专利权的终止未缴年费专利权终止 | 专利权的终止未缴年费专利权终止 |
| 2003-01-22 | 授权 | 授权 |