测量装置以及测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN200610076602.0
申请日
2006-04-19
公开(公告)号
CN1854681B
公开(公告)日
2006-11-01
发明(设计)人
井上胜 本间彰
申请人
申请人地址
日本神奈川县
IPC主分类号
G01B1100
IPC分类号
G01N2100 G02B504 G02B2700
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
黄纶伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测量装置、测量方法、以及程序 [P]. 
西冈勇人 ;
奥贵纪 ;
古屋晋一 .
中国专利 :CN114829869A ,2022-07-29
[2]
测量装置、测量方法以及程序 [P]. 
向江友佑 ;
平良优大 ;
今悠气 ;
饭野卓见 ;
高桥新 .
中国专利 :CN114746731A ,2022-07-12
[3]
测量装置、测量方法以及程序 [P]. 
辻秀之 ;
冈武茂树 ;
山田真士 .
中国专利 :CN113874742A ,2021-12-31
[4]
测量装置、测量系统、测量方法以及程序 [P]. 
水野诚一 .
中国专利 :CN110192229A ,2019-08-30
[5]
测量装置、测量方法、以及测量程序 [P]. 
野口真伍 ;
木代雅巳 .
中国专利 :CN107278265A ,2017-10-20
[6]
测量装置以及测量方法 [P]. 
那塔立亚·纳把托巴-戈巴因 .
中国专利 :CN102331271A ,2012-01-25
[7]
测量装置以及测量方法 [P]. 
中岛光康 ;
山本量平 .
中国专利 :CN105381587A ,2016-03-09
[8]
测量方法以及测量装置 [P]. 
青木俊道 .
中国专利 :CN106017394B ,2016-10-12
[9]
测量装置以及测量方法 [P]. 
松田京子 ;
足立佳久 ;
奥村哲也 .
日本专利 :CN120549431A ,2025-08-29
[10]
测量装置以及测量方法 [P]. 
户谷隆史 .
中国专利 :CN113022132B ,2021-06-25