光学位移测量仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN85102930.2

申请日：

1985-04-13

公开(公告)号：

CN85102930A

公开(公告)日：

1986-10-08

发明(设计)人：

谷田佳代子土谷秀树外山正明

申请人：

申请人地址：

日本东京都品川区西五反田3丁目9番17号东洋大厦

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

上海专利事务所

代理人：

杨国胜

法律状态：

授权

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1990-04-25	授权	授权
1986-07-09	实质审查请求	实质审查请求
2000-12-06	专利权的终止专利权有效期届满	专利权的终止专利权有效期届满
1989-09-20	审定	审定
1986-10-08	公开	公开

共 50 条

[1]

位移测量仪 [P].

陈勇 ;

孙广斌 .

中国专利 :CN306025350S ,2020-09-01

[2]

位移测量仪 [P].

刘娟娟 .

中国专利 :CN302525489S ,2013-08-07

[3]

位移测量仪 [P].

潘平 ;

陈长伟 ;

刘珺钰 ;

江从茂 .

中国专利 :CN305624224S ,2020-02-21

[4]

微小角位移测量仪 [P].

韩彦民 .

中国专利 :CN2667457Y ,2004-12-29

[5]

一种立井井壁位移测量仪 [P].

杨艳国 ;

贺璐璐 ;

曹磊 ;

霍立超 ;

李特 ;

吕鹏 ;

黄子鉴 ;

郑忠宇 ;

马明康 ;

王一平 .

中国专利 :CN205300509U ,2016-06-08

[6]

角度位移测量仪 [P].

纪曰军 .

中国专利 :CN2534553Y ,2003-02-05

[7]

智能位移测量仪 [P].

奚旭明 .

中国专利 :CN2048179U ,1989-11-22

[8]

双位移测量仪 [P].

周成顺 ;

曾利 ;

骆玉智 ;

胡菊云 ;

张立红 ;

蒋永伟 ;

韦万春 .

中国专利 :CN202928543U ,2013-05-08

[9]

角位移测量仪 [P].

高小军 ;

石勇 ;

贝国军 ;

俞元林 ;

徐庆法 .

中国专利 :CN201837352U ,2011-05-18

[10]

激光粉尘测量仪光学探头 [P].

黄惠杰 ;

路敦武 ;

赵永凯 ;

杜龙龙 .

中国专利 :CN2397489Y ,2000-09-20

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