老化测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200820122662.6
申请日
2008-09-24
公开(公告)号
CN201289508Y
公开(公告)日
2009-08-12
发明(设计)人
申健 姚志宏 朱洪伟
申请人
申请人地址
100097北京市海淀区闵庄路3号清华科技园玉泉慧谷5号楼
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
H04L1226
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人
尚志峰
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
老化测试装置 [P]. 
程灿 ;
姜震宇 ;
赵至捷 .
中国专利 :CN209992595U ,2020-01-24
[2]
老化测试装置 [P]. 
戴婷 ;
杨康 ;
赵志 ;
朱淇炜 ;
潘楼忠 ;
王新华 ;
李晓芬 .
中国专利 :CN220590816U ,2024-03-15
[3]
老化测试装置 [P]. 
刘付伟东 ;
仇和平 ;
黄志衡 ;
姚高亮 ;
杨联鑫 .
中国专利 :CN222482374U ,2025-02-14
[4]
老化测试装置 [P]. 
祝占伟 ;
郭志诚 ;
翁水才 ;
谢周阳 .
中国专利 :CN215415510U ,2022-01-04
[5]
老化测试装置 [P]. 
黄建新 ;
聂春成 .
中国专利 :CN203881874U ,2014-10-15
[6]
老化测试装置 [P]. 
郭震撼 ;
潘彤 ;
王子翔 ;
刘云杰 ;
王申艳 .
中国专利 :CN220367376U ,2024-01-19
[7]
老化测试装置 [P]. 
黄炜胜 ;
李康海 ;
祁鹏鹏 .
中国专利 :CN222704685U ,2025-04-01
[8]
ECU老化测试装置 [P]. 
夏增平 .
中国专利 :CN217466983U ,2022-09-20
[9]
产品老化测试装置 [P]. 
吴中开 ;
王良成 .
中国专利 :CN203101547U ,2013-07-31
[10]
电源老化测试装置 [P]. 
商云涛 .
中国专利 :CN204065376U ,2014-12-31