小光点测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121605004.4

申请日：

2021-07-15

公开(公告)号：

CN215832745U

公开(公告)日：

2022-02-15

发明(设计)人：

韩涛王伟卫

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区菊园新区环城路2222号1幢J2787室

IPC主分类号：

G01D1800

IPC分类号：

代理机构：

北京中索知识产权代理有限公司 11640

代理人：

朱晓丹

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种小光斑测试系统及其测试方法 [P].

张建 ;

高劲松 ;

王笑夷 .

中国专利 :CN109724780A ,2019-05-07

[2]

点温测试系统和点温测试方法 [P].

程思明 ;

常艺文 ;

田入凯 ;

刘连军 ;

陈剑 ;

段善宥 .

中国专利 :CN118129932A ,2024-06-04

[3]

一种基于主板测试的点测试系统 [P].

莫鹏 ;

周潇 ;

何志平 ;

黄志鹏 ;

贾兵 ;

刘虎 ;

周南 .

中国专利 :CN220933136U ,2024-05-10

[4]

测试系统 [P].

李伟 ;

丁屹峰 ;

于华 ;

陈壬贤 ;

唐宇 ;

韩帅 .

中国专利 :CN204649943U ,2015-09-16

[5]

测试系统 [P].

袁晶 ;

邓联迎 ;

张帅 ;

李琦 ;

鲁小旦 ;

黄熙 .

中国专利 :CN214622347U ,2021-11-05

[6]

测试系统 [P].

陈雨 ;

何帅 ;

吴洁 ;

彭丽霞 ;

许涛 .

中国专利 :CN207851257U ,2018-09-11

[7]

射频集成电路测试系统 [P].

袁练 .

中国专利 :CN212932865U ,2021-04-09

[8]

光缆自动对纤测试系统 [P].

孙凯杰 ;

程梦玲 ;

吴琳琳 ;

孙张敏 ;

刘源 ;

徐国强 ;

竟勇 ;

轩雪丽 ;

蔡鑫 ;

韩静 ;

莫琬琳 .

中国专利 :CN212110534U ,2020-12-08

[9]

用于芯片封装的点胶测试系统 [P].

位贤龙 ;

张成 ;

王丽 ;

陈松 ;

姚燕杰 .

中国专利 :CN208189535U ,2018-12-04

[10]

雪崩击穿电压过载点测试系统 [P].

宋哲韬 ;

李刚 .

中国专利 :CN201184906Y ,2009-01-21

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