表面粗糙度评价方法、表面粗糙度评价装置以及玻璃基板

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680027249.9

申请日：

2016-05-12

公开(公告)号：

CN107532877A

公开(公告)日：

2018-01-02

发明(设计)人：

高桥祐之大野和宏中塚弘树奥隼人

申请人：

申请人地址：

日本国滋贺县

IPC主分类号：

G01B528

IPC分类号：

C03B1706 C03C1500 C03C1900 G01B1130

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

刘影娜

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-02-14	授权	授权
2018-01-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 5/28 申请日:20160512
2018-01-02	公开	公开

共 50 条

[1]

表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统 [P].

韩朝 ;

邓郴 ;

孙超 ;

王艺娜 ;

张正 ;

申开颜 ;

苏华运 ;

尹士平 ;

唐莉 ;

高静 .

中国专利 :CN223076664U ,2025-07-08

[2]

三维表面粗糙度评价装置、三维表面粗糙度评价方法、三维表面粗糙度数据获取装置和三维表面粗糙度数据获取方法 [P].

三重野紘央 .

中国专利 :CN109477712A ,2019-03-15

[3]

三维表面粗糙度评价装置、三维表面粗糙度评价方法、三维表面粗糙度数据获取装置和三维表面粗糙度数据获取方法 [P].

三重野紘央 .

日本专利 :CN121140682A ,2025-12-16

[4]

表面粗糙度应用 [P].

S·冈萨雷斯马丁 ;

M·博拉斯卡马拉萨 ;

J·阿尔马塞拉斯维萨 .

中国专利 :CN115103756A ,2022-09-23

[5]

表面粗糙度仪器 [P].

夏建平 .

中国专利 :CN309267834S ,2025-05-02

[6]

表面粗糙度测量 [P].

瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;

帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;

安思文·哈瑞达斯 ;

普尔基特·卡普尔 ;

比拉尔·M·纳塞尔 ;

凯尔文·H·K·陈 .

中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14

[7]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗·查劳瑞 ;

凯文·G·哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN105378427A ,2016-03-02

[8]

表面粗糙度测量装置 [P].

谢广平 ;

贾明 ;

翟梓融 ;

保罗.查劳瑞 ;

凯文.G.哈丁 ;

宋桂菊 .

中国专利 :CN104121872B ,2014-10-29

[9]

表面粗糙度检测装置 [P].

李粉兰 ;

段海峰 ;

郝建国 ;

许祖茂 ;

李俊国 .

中国专利 :CN101363725B ,2009-02-11

[10]

表面粗糙度检测装置 [P].

李粉兰 ;

段海峰 ;

郝建国 ;

许祖茂 ;

李俊国 .

中国专利 :CN201322610Y ,2009-10-07

← 1 2 3 4 5 →