用于微电子器件的柔性加载测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710654087.8

申请日：

2017-08-03

公开(公告)号：

CN107505557A

公开(公告)日：

2017-12-22

发明(设计)人：

李拉香格李军辉刘小鹤何虎朱文辉彭启发

申请人：

申请人地址：

410083 湖南省长沙市麓山南路932号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

长沙朕扬知识产权代理事务所(普通合伙) 43213

代理人：

邓宇

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-22	公开	公开
2018-01-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20170803

共 50 条

[1]

用于微电子器件的柔性加载测试装置 [P].

李拉香格 ;

李军辉 ;

刘小鹤 ;

何虎 ;

朱文辉 ;

彭启发 .

中国专利 :CN207037025U ,2018-02-23

[2]

用于微电子器件的柔性加载测试装置 [P].

李拉香格 ;

李军辉 ;

刘小鹤 ;

何虎 ;

朱文辉 ;

彭启发 .

中国专利 :CN107505557B ,2024-09-24

[3]

微电子器件装置、具有微电子器件装置的系统和相对应的用于微电子器件装置的制造方法 [P].

I.赫尔曼 ;

F.乌特梅伦 ;

F.亨里奇 .

中国专利 :CN107925716A ,2018-04-17

[4]

一种可调节微电子器件绝缘测试装置 [P].

习建平 ;

莫维斌 .

中国专利 :CN212693939U ,2021-03-12

[5]

一种便安装微电子器件绝缘测试装置 [P].

刘佳杭 ;

裴梓霖 ;

裴怀宝 ;

刘颖 .

中国专利 :CN221007766U ,2024-05-24

[6]

一种便安装微电子器件绝缘测试装置 [P].

习建平 ;

莫维斌 .

中国专利 :CN212693947U ,2021-03-12

[7]

微电子器件和制造微电子器件的方法 [P].

R·斯托默 ;

M·斯特拉塞 .

中国专利 :CN1949541A ,2007-04-18

[8]

微电子器件 [P].

J·日默内·马蒂内 .

中国专利 :CN215600373U ,2022-01-21

[9]

制造微电子器件的方法和微电子器件 [P].

G·欣德勒 ;

Z·加布里克 ;

W·哈特纳 .

中国专利 :CN1162900C ,2002-03-20

[10]

微电子器件 [P].

K·维尔瓦尼 ;

K·戈帕拉克里希南 ;

R·S·谢诺伊 ;

D·S·贝休恩 ;

A·J·科洛克 .

中国专利 :CN103733337A ,2014-04-16

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