投影线对应的光平面识别装置、三维测量系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110008578.1

申请日：

2021-01-05

公开(公告)号：

CN112665530B

公开(公告)日：

2021-04-16

发明(设计)人：

银昌龄

申请人：

申请人地址：

412007 湖南省株洲市天元区中国动力谷白领公寓5栋702

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

深圳市翼智博知识产权事务所(普通合伙) 44320

代理人：

黄莉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	授权	授权
2021-05-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20210105
2021-04-16	公开	公开

共 50 条

[1]

结构光三维测量系统 [P].

杨泓宇 ;

鲜宗均 ;

胡兴成 ;

彭子赞 ;

袁寒 .

中国专利 :CN220794168U ,2024-04-16

[2]

三维测量系统及三维测量方法 [P].

太田润 ;

松本慎也 ;

木口哲也 .

中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03

[3]

一种线结构光三维测量系统的标定方法 [P].

杨迪 ;

乔大勇 ;

夏长锋 .

中国专利 :CN108458671A ,2018-08-28

[4]

基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法 [P].

杨迪 ;

乔大勇 ;

宋秀敏 .

中国专利 :CN109425292A ,2019-03-05

[5]

一种多光路投影装置、三维测量系统及方法 [P].

黄长江 ;

张光宇 ;

唐俊峰 ;

曹桂平 ;

董宁 .

中国专利 :CN115981073B ,2025-10-21

[6]

接触式三维测量装置及三维测量系统 [P].

陈尚俭 ;

谢江虎 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN220912262U ,2024-05-07

[7]

一种相移式光投影三维测量系统及方法 [P].

朱勇建 ;

钟建平 ;

宋树祥 ;

漆广文 .

中国专利 :CN106152972A ,2016-11-23

[8]

面结构光三维测量系统及方法 [P].

何文韬 ;

王辰 ;

王晓南 ;

孙繁 .

中国专利 :CN117824532A ,2024-04-05

[9]

一种投影装置及三维测量系统 [P].

吴丽萍 ;

徐殿维 ;

李金华 ;

景晓丽 .

中国专利 :CN111031300A ,2020-04-17

[10]

一种投影装置及三维测量系统 [P].

吴丽萍 ;

徐殿维 ;

李金华 ;

景晓丽 .

中国专利 :CN111031300B ,2024-10-11

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