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试样处理装置、试样处理系统及测定时间的计算方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810887828.1
申请日
:
2018-08-07
公开(公告)号
:
CN109387512A
公开(公告)日
:
2019-02-26
发明(设计)人
:
松本翔平
村田知嘉子
铃木健一郎
申请人
:
申请人地址
:
日本兵库县
IPC主分类号
:
G01N2184
IPC分类号
:
C12Q16886
C12M134
C12M100
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
:
何杨
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-02-26
公开
公开
2020-03-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/84 申请日:20180807
共 50 条
[1]
试样处理系统
[P].
神田胜弘
论文数:
0
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0
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0
神田胜弘
;
野上真
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野上真
;
和气泉
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和气泉
.
中国专利
:CN102472692B
,2012-05-23
[2]
试样处理系统
[P].
松原茂树
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
松原茂树
;
杉山英利
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
杉山英利
;
远藤正史
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0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
远藤正史
.
日本专利
:CN120359418A
,2025-07-22
[3]
试样处理系统
[P].
陈波
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0
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陈波
.
中国专利
:CN104316344B
,2015-01-28
[4]
试样处理装置及试样处理方法
[P].
庄司义之
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庄司义之
;
横林敏昭
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横林敏昭
.
中国专利
:CN1541268A
,2004-10-27
[5]
试样处理装置及试样处理方法
[P].
浜田雄一
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浜田雄一
.
中国专利
:CN108931397A
,2018-12-04
[6]
试样处理方法、试样处理装置、程序及试样处理盒
[P].
三浦由宣
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三浦由宣
;
山下秀治
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山下秀治
;
长谷川雄大
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长谷川雄大
;
林智也
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林智也
.
中国专利
:CN110873789A
,2020-03-10
[7]
试样处理设备、试样处理装置以及试样的处理方法
[P].
长冈嘉浩
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
长冈嘉浩
;
山本周平
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山本周平
;
中泽太朗
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中泽太朗
.
日本专利
:CN116324423B
,2025-06-03
[8]
试样前处理系统
[P].
铃木笃史
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铃木笃史
;
矢野茂
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矢野茂
;
福垣达也
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福垣达也
.
中国专利
:CN102472762A
,2012-05-23
[9]
试样判别系统、试样自动处理装置、以及试样判别方法
[P].
宫坂彻
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
宫坂彻
;
柴田亨
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
柴田亨
;
神原克宏
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
神原克宏
;
山口茂辉
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
山口茂辉
.
日本专利
:CN112639483B
,2025-01-03
[10]
试样处理装置以及试样处理装置的异常检测方法
[P].
福田正和
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福田正和
;
田中政道
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0
田中政道
.
中国专利
:CN104251912A
,2014-12-31
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