试样处理装置、试样处理系统及测定时间的计算方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810887828.1
申请日
2018-08-07
公开(公告)号
CN109387512A
公开(公告)日
2019-02-26
发明(设计)人
松本翔平 村田知嘉子 铃木健一郎
申请人
申请人地址
日本兵库县
IPC主分类号
G01N2184
IPC分类号
C12Q16886 C12M134 C12M100
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
何杨
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
试样处理系统 [P]. 
神田胜弘 ;
野上真 ;
和气泉 .
中国专利 :CN102472692B ,2012-05-23
[2]
试样处理系统 [P]. 
松原茂树 ;
杉山英利 ;
远藤正史 .
日本专利 :CN120359418A ,2025-07-22
[3]
试样处理系统 [P]. 
陈波 .
中国专利 :CN104316344B ,2015-01-28
[4]
试样处理装置及试样处理方法 [P]. 
庄司义之 ;
横林敏昭 .
中国专利 :CN1541268A ,2004-10-27
[5]
试样处理装置及试样处理方法 [P]. 
浜田雄一 .
中国专利 :CN108931397A ,2018-12-04
[6]
试样处理方法、试样处理装置、程序及试样处理盒 [P]. 
三浦由宣 ;
山下秀治 ;
长谷川雄大 ;
林智也 .
中国专利 :CN110873789A ,2020-03-10
[7]
试样处理设备、试样处理装置以及试样的处理方法 [P]. 
长冈嘉浩 ;
山本周平 ;
中泽太朗 .
日本专利 :CN116324423B ,2025-06-03
[8]
试样前处理系统 [P]. 
铃木笃史 ;
矢野茂 ;
福垣达也 .
中国专利 :CN102472762A ,2012-05-23
[9]
试样判别系统、试样自动处理装置、以及试样判别方法 [P]. 
宫坂彻 ;
柴田亨 ;
神原克宏 ;
山口茂辉 .
日本专利 :CN112639483B ,2025-01-03
[10]
试样处理装置以及试样处理装置的异常检测方法 [P]. 
福田正和 ;
田中政道 .
中国专利 :CN104251912A ,2014-12-31