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测试电路、测试装置及其测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010893028.8
申请日：
2020-08-31
公开(公告)号：
CN114121132A
公开(公告)日：
2022-03-01
发明(设计)人：
张良
申请人：
申请人地址：
200051 上海市长宁区虹桥路1438号1幢801、802、805单元（名义楼层9层）
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
杜娟娟
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-01 | 公开 | 公开 |
| 2022-03-18 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20200831 |