外部磁场测定方法及装置，静磁场校正方法和MRI系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02126875.4

申请日：

2002-06-21

公开(公告)号：

CN1400472A

公开(公告)日：

2003-03-05

发明(设计)人：

后藤隆男

申请人：

申请人地址：

美国威斯康星州

IPC主分类号：

G01R3320

IPC分类号：

G01R3338

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

黄力行

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-05-07	实质审查的生效	实质审查的生效
2003-03-05	公开	公开
2006-10-25	授权	授权
2015-08-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101620095392 IPC(主分类):G01R 33/20 专利号:ZL021268754 申请日:20020621 授权公告日:20061025 终止日期:20140621

共 50 条

[1]

静磁场校正方法和磁谐振成象系统 [P].

T·戈托 ;

S·米亚莫托 .

中国专利 :CN100353176C ,2003-11-12

[2]

校正磁场产生装置及其磁场传感器与校正方法 [P].

傅乃中 ;

郭明谕 ;

汪大镛 .

中国专利 :CN111722168A ,2020-09-29

[3]

磁场校正方法、磁场产生设备和磁共振成像设备 [P].

后藤隆男 .

中国专利 :CN1248649C ,2004-04-07

[4]

一种平面磁场校正方法及其装置 [P].

干晓明 ;

祝峥 .

中国专利 :CN110031020A ,2019-07-19

[5]

静磁场均匀度的调整方法、磁共振成像用静磁场产生装置、磁场调整系统、程序 [P].

榊原健二 .

中国专利 :CN103442635B ,2013-12-11

[6]

磁场值测定装置以及磁场值测定方法 [P].

齐藤准 ;

吉村哲 ;

木下幸则 ;

野村光 ;

中谷亮一 .

中国专利 :CN105102989B ,2015-11-25

[7]

磁场传感器装置及测量外部磁场的方法 [P].

D·哈默施密特 ;

H·科克 ;

A·蒙特拉斯特利 ;

T·沃斯 .

中国专利 :CN109696559A ,2019-04-30

[8]

磁场值测定装置以及磁场值测定方法 [P].

刘兆萄 .

中国专利 :CN113959546A ,2022-01-21

[9]

梯度磁场校正方法、设备、梯度成像系统和存储介质 [P].

王灌 .

中国专利 :CN120178131A ,2025-06-20

[10]

光晶格钟和光晶格钟的磁场校正方法 [P].

辻成悟 ;

高本将男 ;

香取秀俊 .

中国专利 :CN115380440A ,2022-11-22

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