具有X-射线荧光检查功能的X-射线诊断设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN03101865.3
申请日
2003-01-20
公开(公告)号
CN100396242C
公开(公告)日
2004-08-11
发明(设计)人
小野正彦
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
A61B600
IPC分类号
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
李德山
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
X-射线成像设备和X-射线控制方法 [P]. 
李寰中 .
中国专利 :CN101451966A ,2009-06-10
[2]
X-射线检测器和X-射线CT装置 [P]. 
别所浩治 .
中国专利 :CN1957846A ,2007-05-09
[3]
X-射线荧光元素分析器 [P]. 
梅尔文·J·劳里拉 ;
克劳斯·C·巴奇曼 ;
阿伯特·P·克莱恩 .
中国专利 :CN1328639A ,2001-12-26
[4]
X-射线CT系统 [P]. 
萩原明 .
中国专利 :CN100425203C ,2006-02-01
[5]
X-射线CT装置 [P]. 
铃木逹郎 .
中国专利 :CN1413558A ,2003-04-30
[6]
多线性X-射线扫描系统以及X-射线扫描方法 [P]. 
约翰·D·考克斯 ;
詹姆士·吉姆利特 ;
肖恩·乔治斯 ;
戴维·克里夫斯 .
中国专利 :CN104053400A ,2014-09-17
[7]
X-射线CT设备和图象诊断设备 [P]. 
马岛薰 ;
佐藤彰子 ;
畦元将吾 ;
南学 .
中国专利 :CN1157156C ,2000-02-02
[8]
X-射线发生器 [P]. 
郁向荣 .
中国专利 :CN85102523B ,1986-02-10
[9]
X-射线扫描仪 [P]. 
格哈特·唐格斯 ;
科尼利厄斯·科克 .
中国专利 :CN1003542B ,1986-12-03
[10]
用于实施X-射线荧光分析的方法和设备 [P]. 
J.凯斯勒 .
中国专利 :CN104956211B ,2015-09-30