一种微波器件动态老化试验系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520643710.6

申请日：

2015-08-25

公开(公告)号：

CN204989343U

公开(公告)日：

2016-01-20

发明(设计)人：

邱云峰袁帅袁文

申请人：

申请人地址：

550009 贵州省贵阳市小河区红河路7号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

贵阳中新专利商标事务所 52100

代理人：

商小川

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种微波器件老化试验装置 [P].

邱云峰 ;

杜勇 .

中国专利 :CN204903710U ,2015-12-23

[2]

一种微波器件电老化试验台 [P].

赵会昌 ;

朱海燕 .

中国专利 :CN221650503U ,2024-09-03

[3]

电子器件老化试验系统 [P].

周鹏 ;

马超 ;

徐智号 ;

唐朋 .

中国专利 :CN113406423B ,2021-09-17

[4]

一种车灯老化试验系统 [P].

纪景成 ;

侯依其 ;

廖俊嵩 .

中国专利 :CN212458828U ,2021-02-02

[5]

电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法 [P].

李小兵 ;

潘广泽 ;

王春辉 ;

时钟 ;

李劲 ;

唐敬 ;

解江 ;

孟苓辉 ;

周健 ;

王远航 ;

刘文威 ;

杨剑锋 ;

罗琴 .

中国专利 :CN112526333B ,2024-12-13

[6]

电流型老化试验系统和开关器件老化试验方法 [P].

李小兵 ;

潘广泽 ;

王春辉 ;

时钟 ;

李劲 ;

唐敬 ;

解江 ;

孟苓辉 ;

周健 ;

王远航 ;

刘文威 ;

杨剑锋 ;

罗琴 .

中国专利 :CN112526333A ,2021-03-19

[7]

一种老化试验箱 [P].

聂新磊 ;

钱佳佳 ;

张倩 ;

金丽 .

中国专利 :CN209519784U ,2019-10-22

[8]

一种老化试验装置 [P].

朱春林 ;

潘永阳 ;

李明 ;

陈涛 .

中国专利 :CN201440157U ,2010-04-21

[9]

一种基于热老化试验的老化试验箱 [P].

许占文 ;

邱军 ;

孙力勇 ;

樊庆东 ;

张辰 ;

崔玉新 ;

徐玉红 ;

张璐 ;

曹岳铮 .

中国专利 :CN215448925U ,2022-01-07

[10]

一种通讯器件电源老化集成老化试验箱 [P].

刘丰 .

中国专利 :CN208420643U ,2019-01-22

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