一种芯片联动测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202020672160.1
申请日
2020-04-28
公开(公告)号
CN212483761U
公开(公告)日
2021-02-05
发明(设计)人
杨斌 黄峰荣 何秋生
申请人
申请人地址
629000 四川省遂宁市高新区物流港玫瑰大道东侧春晓路73号苏哈瑞涛科技园2号厂房
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104 B65G4907
代理机构
成都华复知识产权代理有限公司 51298
代理人
庞启成
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试机 [P]. 
白盛闵 .
中国专利 :CN217787141U ,2022-11-11
[2]
芯片测试机构及测试机 [P]. 
张磊 ;
陈波 .
中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24
[3]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 ;
黄传红 .
中国专利 :CN222734680U ,2025-04-08
[4]
一种芯片电路测试机 [P]. 
郝弘毅 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN222337292U ,2025-01-10
[5]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王永安 .
中国专利 :CN207937563U ,2018-10-02
[6]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
李勇 ;
刘湘鹏 ;
刘振华 .
中国专利 :CN218413454U ,2023-01-31
[7]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
董继承 ;
邱志良 .
中国专利 :CN216619034U ,2022-05-27
[8]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
唐玉春 ;
杨超 .
中国专利 :CN221485578U ,2024-08-06
[9]
一种芯片烧录测试机 [P]. 
冯科 ;
肖玮 ;
欧玉发 ;
秦建伟 ;
梅得军 ;
李晓华 .
中国专利 :CN207336707U ,2018-05-08
[10]
一种芯片测试机构 [P]. 
庄渊胜 ;
蔡江梁 ;
王强 .
中国专利 :CN213122195U ,2021-05-04