样本分析装置和样本分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710166628.9
申请日
2007-10-23
公开(公告)号
CN101419240A
公开(公告)日
2009-04-29
发明(设计)人
王志红 许智 解传芬 李锋
申请人
申请人地址
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦
IPC主分类号
G01N3502
IPC分类号
G01N3504 G01N3510
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司
代理人
曾祥夌;赵 辛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
样本分析装置和样本分析方法 [P]. 
森浦一真 ;
黑野浩司 .
日本专利 :CN111624358B ,2024-08-27
[2]
样本分析方法和样本分析装置 [P]. 
张震 ;
于怀博 ;
何太云 ;
姚言义 ;
刘奇林 .
中国专利 :CN113219193A ,2021-08-06
[3]
样本分析装置和样本分析方法 [P]. 
黑野浩司 .
中国专利 :CN111257576A ,2020-06-09
[4]
样本分析装置和样本分析方法 [P]. 
黑野浩司 .
日本专利 :CN111257576B ,2024-09-17
[5]
样本分析方法和样本分析装置 [P]. 
张震 ;
于怀博 ;
何太云 ;
姚言义 ;
刘奇林 .
中国专利 :CN113219193B ,2024-03-19
[6]
样本分析装置和样本分析方法 [P]. 
森浦一真 ;
黑野浩司 .
中国专利 :CN111624358A ,2020-09-04
[7]
样本分析系统、样本分析装置及样本分析方法 [P]. 
小田哲也 ;
桑野桂辅 ;
福间大吾 ;
有吉俊辅 .
中国专利 :CN103348250B ,2013-10-09
[8]
样本分析装置、样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
加藤拓马 ;
福间大吾 ;
滨田雄一 .
中国专利 :CN103364575B ,2013-10-23
[9]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
坂本光优 ;
小篠正继 .
中国专利 :CN104422646A ,2015-03-18
[10]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
坂本光优 ;
小篠正继 .
中国专利 :CN104422645A ,2015-03-18