一种柔性片状材料表面电阻的测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320656234.2

申请日：

2013-10-23

公开(公告)号：

CN203572879U

公开(公告)日：

2014-04-30

发明(设计)人：

黄时建高琮

申请人：

申请人地址：

201620 上海市松江区龙腾路333号

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258

代理人：

何葆芳

法律状态：

避免重复授权放弃专利权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-02	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101728589097 IPC(主分类):G01R 27/02 专利号:ZL2013206562342 申请日:20131023 授权公告日:20140430 放弃生效日:20160302
2014-04-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置 [P].

黄时建 ;

高琮 .

中国专利 :CN103529300B ,2014-01-22

[2]

一种材料表面电阻测量系统及材料表面电阻测量方法 [P].

黄梦可 .

中国专利 :CN121049578A ,2025-12-02

[3]

一种绝缘材料的表面电阻测量装置 [P].

李剑 ;

张红垒 ;

盖皓 ;

刘韶军 ;

袁小平 .

中国专利 :CN205049659U ,2016-02-24

[4]

片状材料厚度测量装置 [P].

郑子儒 .

中国专利 :CN208366244U ,2019-01-11

[5]

一种片状材料厚度测量装置 [P].

惠峰 ;

赵有文 ;

朱蓉辉 ;

高永亮 .

中国专利 :CN201653324U ,2010-11-24

[6]

一种磁芯表面电阻测量装置 [P].

侯海彬 ;

刘志坚 .

中国专利 :CN207440176U ,2018-06-01

[7]

一种片状材料透气率测量装置 [P].

唐富民 ;

潘相敏 ;

余卓平 .

中国专利 :CN221528535U ,2024-08-13

[8]

一种片状材料厚度测量装置 [P].

朱蓉辉 ;

惠峰 ;

卜俊鹏 ;

郑红军 .

中国专利 :CN1884963A ,2006-12-27

[9]

一种片状材料透水性的测量装置 [P].

孟晓波 ;

廖永力 ;

李锐海 ;

王仲 ;

赵莉华 ;

李健 .

中国专利 :CN207051135U ,2018-02-27

[10]

一种多孔片状材料的透气率测量装置 [P].

唐富民 ;

朱皓民 ;

张若婧 ;

潘相敏 ;

余卓平 .

中国专利 :CN221199347U ,2024-06-21

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