一种电子器件检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920274930.4

申请日：

2019-03-01

公开(公告)号：

CN209997971U

公开(公告)日：

2020-01-31

发明(设计)人：

李春来谢茂

申请人：

申请人地址：

405200 重庆市梁平县梁平工业园区

IPC主分类号：

B07C5344

IPC分类号：

B07C502 B07C536

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

尹丽云

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子器件检测装置 [P].

王湘明 ;

贺厅 .

中国专利 :CN213022043U ,2021-04-20

[2]

一种电子器件检测装置 [P].

曹根花 .

中国专利 :CN212975950U ,2021-04-16

[3]

一种电子器件检测装置 [P].

王瑞 .

中国专利 :CN206258402U ,2017-06-16

[4]

一种电子器件检测装置 [P].

杨国强 .

中国专利 :CN215116635U ,2021-12-10

[5]

一种电子器件视觉检测装置 [P].

陈芬 ;

陆超 .

中国专利 :CN216449422U ,2022-05-06

[6]

一种电子器件失效检测装置 [P].

陈楚江 .

中国专利 :CN223244764U ,2025-08-19

[7]

一种电子器件抗震检测装置 [P].

李华英 .

中国专利 :CN209387229U ,2019-09-13

[8]

一种电子器件外观检测装置 [P].

李龙刚 ;

韩璞辉 ;

尚恒 ;

石蕊 ;

李敏 .

中国专利 :CN206848184U ,2018-01-05

[9]

一种电子器件外观检测装置 [P].

陈新明 .

中国专利 :CN208125625U ,2018-11-20

[10]

电子器件检测装置 [P].

魏兆鸿 ;

魏仁忠 ;

吴维萍 ;

李高雄 ;

夏勇军 ;

刘伟 .

中国专利 :CN1948978A ,2007-04-18

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