一种IC芯片自动测试分选机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210171664.5

申请日：

2012-05-29

公开(公告)号：

CN102698969B

公开(公告)日：

2012-10-03

发明(设计)人：

林宜龙付义超唐召来刘飞王能翔母华程

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园

IPC主分类号：

B07C536

IPC分类号：

代理机构：

北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015

代理人：

齐永红

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-09	授权	授权
2012-10-03	公开	公开
2016-11-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101740911037 IPC(主分类):B07C 5/36 专利号:ZL2012101716645 变更事项:专利权人变更前:格兰达技术(深圳)有限公司变更后:深圳格兰达智能装备股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园变更后:518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园
2021-04-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):B07C 5/36 登记生效日:20210407 变更事项:专利权人变更前权利人:深圳格兰达智能装备股份有限公司变更后权利人:深圳格芯集成电路装备有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园变更后权利人:518000 广东省深圳市坪山区龙田街道竹坑社区翠景路33号格兰达装备产业园二期厂房一层至三层
2012-11-28	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101353332430 IPC(主分类):B07C 5/36 专利申请号:2012101716645 申请日:20120529

共 50 条

[1]

一种自动测试分选机 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 .

中国专利 :CN211330323U ,2020-08-25

[2]

一种自动测试分选机 [P].

何克里 ;

赵华桥 .

中国专利 :CN205270178U ,2016-06-01

[3]

一种自动测试分选机 [P].

李春 ;

孙志刚 .

中国专利 :CN218251598U ,2023-01-10

[4]

一种自动测试分选机 [P].

李庆嘉 .

中国专利 :CN203426071U ,2014-02-12

[5]

一种半导体芯片全自动测试分选机 [P].

代彬 ;

牛信保 ;

郑超 .

中国专利 :CN119035113B ,2025-01-21

[6]

一种半导体芯片全自动测试分选机 [P].

代彬 ;

牛信保 ;

郑超 .

中国专利 :CN119035113A ,2024-11-29

[7]

一种IC芯片测试分选机构 [P].

钟伟雄 .

中国专利 :CN217191025U ,2022-08-16

[8]

自动测试分选机用分选结构 [P].

张新齐 ;

刘慧艳 ;

蔡晓东 .

中国专利 :CN218167829U ,2022-12-30

[9]

一种晶片自动测试分选机 [P].

李天宝 ;

张明 ;

潘东东 ;

汪晓虎 ;

谢凡 ;

朱成 .

中国专利 :CN113953197A ,2022-01-21

[10]

一种半自动测试分选机 [P].

郭寂波 .

中国专利 :CN211488626U ,2020-09-15

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