学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种微纳薄膜热导率的快速测量方法
被引:0
申请号
:
CN202111462747.5
申请日
:
2021-11-29
公开(公告)号
:
CN114295667A
公开(公告)日
:
2022-04-08
发明(设计)人
:
张金英
李德芳
李卓
王欣
杨苏辉
申请人
:
申请人地址
:
100081 北京市海淀区中关村南大街5号
IPC主分类号
:
G01N2520
IPC分类号
:
G06F1710
G06F3020
代理机构
:
北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639
代理人
:
王松
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-08
公开
公开
共 50 条
[1]
一种微纳薄膜热导率的快速测量方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张金英
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李德芳
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李卓
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王欣
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨苏辉
.
中国专利
:CN114295667B
,2024-01-05
[2]
一种基于微纳荧光颗粒的薄膜热导率测量方法
[P].
陈小源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈小源
;
张武康
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张武康
;
方小红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方小红
;
李东栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李东栋
;
陈海燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈海燕
.
中国专利
:CN107102026A
,2017-08-29
[3]
一种基于微纳荧光颗粒的薄膜热导率测量系统
[P].
陈小源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈小源
;
张武康
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张武康
;
方小红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方小红
;
李东栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李东栋
;
陈海燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈海燕
.
中国专利
:CN107144596A
,2017-09-08
[4]
薄膜热导率的测量装置和测量方法
[P].
魏劲松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏劲松
;
李奇松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李奇松
.
中国专利
:CN107478582A
,2017-12-15
[5]
一种薄膜材料热导率的测量方法
[P].
王波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王波
;
肖善曲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
肖善曲
;
祁超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
祁超
;
吕广宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕广宏
;
程龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
程龙
;
马玉田
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马玉田
.
中国专利
:CN111024754A
,2020-04-17
[6]
薄膜热导率的测量装置及测量方法
[P].
许威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许威
;
王晓毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王晓毅
;
赵晓锦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵晓锦
;
杨亚涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨亚涛
.
中国专利
:CN111157573B
,2020-05-15
[7]
石墨烯薄膜热导率的测量方法
[P].
赵霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
赵霞
;
史去非
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
史去非
;
吕庆斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
吕庆斌
;
李晨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
李晨
;
吴健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
吴健
;
滕梓洁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
滕梓洁
;
徐建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
徐建
;
桑素丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
桑素丽
;
窦萌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
窦萌
;
崔莉霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
崔莉霞
;
王颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
王颖
;
裴立宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
裴立宁
;
郭芳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
郭芳
;
张曦雯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
张曦雯
;
任禹菲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
任禹菲
;
张玉律
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
张玉律
;
刘锴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
刘锴
;
张峥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
张峥
;
胡海涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
胡海涛
;
杨莹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京市计量检测科学研究院
北京市计量检测科学研究院
杨莹
.
中国专利
:CN118425220A
,2024-08-02
[8]
一种基于频域光热辐射的薄膜热导率测量方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王欣
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘畅
;
赵永铭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京理工大学
北京理工大学
赵永铭
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨苏辉
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张金英
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李卓
.
中国专利
:CN115165956B
,2025-01-24
[9]
薄膜不同深度处热导率的测量方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
王鲁华
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
苏旭军
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈晶晶
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
易觉民
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
徐科
.
中国专利
:CN119959294A
,2025-05-09
[10]
热导率测量系统和热导率测量方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张警蕾
;
邓淋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
邓淋
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李奇
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
蔡佳强
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
卞耀龙
.
中国专利
:CN119064406A
,2024-12-03
←
1
2
3
4
5
→