基于共性和差异的工业品表面缺陷检测与定位方法及系统

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申请号
CN202211074652.0
申请日
2022-08-31
公开(公告)号
CN115439442A
公开(公告)日
2022-12-06
发明(设计)人
熊炜 田紫欣 郑大定 汪锋 张军 陈奕博 强观臣 李敏
申请人
申请人地址
441100 湖北省襄阳市高新技术开发区科技城起步区E-1-301室
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06V1082 G06V10764 G06V1075 G06V10774 G06V1026
代理机构
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人
肖明洲
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法 [P]. 
董航程 ;
刘国栋 ;
刘炳国 ;
黄颖妍 ;
蒋宇浩 ;
叶东 .
中国专利 :CN115661123A ,2023-01-31
[2]
融合学习和知识的工业品表面缺陷定位方法 [P]. 
李春光 ;
钱程 ;
劳骁贤 .
中国专利 :CN116703866B ,2025-08-22
[3]
基于DeepLab-MSC的工业品表面缺陷检测方法 [P]. 
张丹 ;
刘文钊 ;
杨浩然 .
中国专利 :CN118735885A ,2024-10-01
[4]
工业品表面缺陷检测及严重等级预测模型、方法及应用 [P]. 
陈立名 ;
柯永振 ;
田楷 ;
杨帅 ;
王凯 ;
高泽 ;
韩永坤 .
中国专利 :CN118333955B ,2025-06-17
[5]
工业品表面缺陷检测及严重等级预测模型、方法及应用 [P]. 
陈立名 ;
柯永振 ;
田楷 ;
杨帅 ;
王凯 ;
高泽 ;
韩永坤 .
中国专利 :CN118333955A ,2024-07-12
[6]
仿生眼机制的工业品表面缺陷主动视觉检测方法及装置 [P]. 
张腾 ;
王冬云 ;
杨昊文 ;
魏妍妍 .
中国专利 :CN120558964A ,2025-08-29
[7]
工业品缺陷图像检测的方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN112070710A ,2020-12-11
[8]
一种基于分割一切模型的工业品表面缺陷检测系统 [P]. 
孙福明 ;
赵宇 ;
孙静 ;
王法胜 .
中国专利 :CN120707491A ,2025-09-26
[9]
基于交叉局部全局特征的半监督工业品表面缺陷检测方法 [P]. 
李刚 ;
李敏 ;
周鸣乐 ;
李旺 ;
韩德隆 ;
冯正乾 ;
苏占智 .
中国专利 :CN117593304A ,2024-02-23
[10]
基于交叉局部全局特征的半监督工业品表面缺陷检测方法 [P]. 
李刚 ;
李敏 ;
周鸣乐 ;
李旺 ;
韩德隆 ;
冯正乾 ;
苏占智 .
中国专利 :CN117593304B ,2024-04-26