一种光学波片测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620253871.9

申请日：

2016-03-30

公开(公告)号：

CN205506357U

公开(公告)日：

2016-08-24

发明(设计)人：

陈旭

申请人：

申请人地址：

350000 福建省福州市马尾区马江路18号（M9511工业园）4#楼2层北侧（自贸试验区内）

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-17	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20160330 授权公告日:20160824 终止日期:20190330
2016-08-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学波片测试台 [P].

唐虎林 .

中国专利 :CN210347078U ,2020-04-17

[2]

一种光学波片延迟度检测装置 [P].

黄武达 .

中国专利 :CN205506359U ,2016-08-24

[3]

一种光学性能测试台 [P].

李伶俐 .

中国专利 :CN211086112U ,2020-07-24

[4]

一种光学膜片光学性能测试台 [P].

王亚龙 ;

王剑涛 ;

王耀辉 ;

郝英领 ;

唐隽 .

中国专利 :CN214373262U ,2021-10-08

[5]

光学膜片光学性能测试台 [P].

董兴华 ;

范卫星 ;

赵胜平 .

中国专利 :CN202216828U ,2012-05-09

[6]

拾波器测试台 [P].

叶苇 ;

况伟 ;

杨森 ;

覃建 ;

陈余全 .

中国专利 :CN210108400U ,2020-02-21

[7]

一种振动测试台 [P].

廖承红 ;

潘长华 ;

刘斌 .

中国专利 :CN215414276U ,2022-01-04

[8]

芯片测试台 [P].

王琳 ;

唐国强 ;

陈云 ;

顾方成 ;

沈国平 .

中国专利 :CN201514459U ,2010-06-23

[9]

一种测试台 [P].

胡东林 ;

周力 ;

吴德 ;

郑乐进 ;

戴宗亮 .

中国专利 :CN217786083U ,2022-11-11

[10]

一种测试台 [P].

邹颜 ;

杨彦伟 ;

张续朋 .

中国专利 :CN214703692U ,2021-11-12

← 1 2 3 4 5 →