晶圆翘曲度测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010220481.2
申请日
2020-03-25
公开(公告)号
CN111336914B
公开(公告)日
2020-06-26
发明(设计)人
王凡
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
IPC主分类号
G01B716
IPC分类号
G01B530 G01B500 H01L2167 H01L2166
代理机构
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
刘恋;张颖玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
晶圆翘曲度测量装置及方法 [P]. 
王凡 .
中国专利 :CN111370346A ,2020-07-03
[2]
一种晶圆翘曲度测量装置 [P]. 
邱阳 ;
孙福广 ;
崔朋 .
中国专利 :CN222826357U ,2025-05-02
[3]
晶圆翘曲测量方法及晶圆翘曲测量装置 [P]. 
王旭 ;
朱龙龙 .
中国专利 :CN119245556A ,2025-01-03
[4]
一种晶圆翘曲度的测量方法和装置 [P]. 
赵晗 ;
黄自柯 ;
李芳 ;
江献茂 .
中国专利 :CN117968555A ,2024-05-03
[5]
一种晶圆翘曲度的测量方法和装置 [P]. 
赵晗 ;
黄自柯 ;
李芳 ;
江献茂 .
中国专利 :CN117968555B ,2024-06-14
[6]
翘曲度测量装置 [P]. 
童嘉俊 ;
阙君桦 ;
冯超 .
中国专利 :CN120702364A ,2025-09-26
[7]
表面翘曲度测量装置及方法 [P]. 
姚力军 ;
潘杰 ;
相原俊夫 ;
大岩一彦 ;
王学泽 ;
傅锦超 .
中国专利 :CN105806301A ,2016-07-27
[8]
晶圆一维翘曲程度测量装置、方法及晶圆测量系统 [P]. 
马砚忠 ;
陈治均 ;
程朝奎 ;
白园园 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN119779179A ,2025-04-08
[9]
晶圆一维翘曲程度测量装置、方法及晶圆测量系统 [P]. 
马砚忠 ;
陈治均 ;
程朝奎 ;
白园园 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN119779179B ,2025-11-21
[10]
晶圆翘曲程度测量方法及装置 [P]. 
陈子琪 .
中国专利 :CN108828267A ,2018-11-16