用于位置测量装置的刻度尺以及位置测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810108831.5

申请日：

2008-05-26

公开(公告)号：

CN101311665A

公开(公告)日：

2008-11-26

发明(设计)人：

H·托瓦尔

申请人：

申请人地址：

德国特劳恩罗伊特

IPC主分类号：

G01B304

IPC分类号：

G01B1100 G01B1102 G01D536

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

曹若

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-09-14	授权	授权
2008-11-26	公开	公开
2010-06-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101002758134 IPC(主分类):G01B 3/04 专利申请号:2008101088315 申请日:20080526

共 50 条

[1]

位置测量装置及运行位置测量装置的方法 [P].

W·霍尔扎普菲尔 ;

K·桑迪 .

中国专利 :CN1551973A ,2004-12-01

[2]

位置测量装置 [P].

W·霍尔扎普费尔 .

中国专利 :CN101680745A ,2010-03-24

[3]

位置测量装置 [P].

W·霍尔扎普菲尔 ;

A·施雷贝尔 .

中国专利 :CN1459019A ,2003-11-26

[4]

位置测量装置和用于运行位置测量装置的方法 [P].

埃尔玛·迈尔 ;

安德烈·维甘徳 .

中国专利 :CN107687829B ,2018-02-13

[5]

位置测量装置和用于运行位置测量装置的方法 [P].

M·梅斯纳 ;

J·德勒舍 .

中国专利 :CN1963380A ,2007-05-16

[6]

位置测量装置 [P].

W·霍尔查普菲尔 .

中国专利 :CN100554868C ,2007-01-10

[7]

位置测量装置 [P].

E·施特拉泽尔 ;

R·米特曼 .

中国专利 :CN1615428A ,2005-05-11

[8]

位置测量装置 [P].

E·迈尔 .

中国专利 :CN1584492A ,2005-02-23

[9]

位置测量装置 [P].

E·迈耶 ;

J·奥伯豪瑟 ;

H·托弗 .

中国专利 :CN101290220A ,2008-10-22

[10]

位置测量装置 [P].

P·海布尔 ;

A·巴特莱克纳 ;

S·格鲁伯 .

中国专利 :CN114667438A ,2022-06-24

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