一种基于光学三维测量的耳廓缺损测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710897396.8

申请日：

2017-09-28

公开(公告)号：

CN107773246B

公开(公告)日：

2018-03-09

发明(设计)人：

李中伟詹国敏钟凯

申请人：

申请人地址：

430070 湖北省武汉市高新大道999号

IPC主分类号：

A61B5107

IPC分类号：

代理机构：

武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224

代理人：

方可

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/107 申请日:20170928
2020-09-11	授权	授权
2018-03-09	公开	公开

共 50 条

[1]

基于相位编码技术的光学三维测量方法 [P].

崔海华 ;

戴宁 ;

程筱胜 ;

廖文和 .

中国专利 :CN101881605A ,2010-11-10

[2]

基于标识物的三维测量方法 [P].

赵罡 .

中国专利 :CN111397532A ,2020-07-10

[3]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[4]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

[5]

一种高精度光学三维测量方法 [P].

唐正勇 ;

李日胜 ;

韩琦 ;

夏勇 ;

程爱祥 ;

陈波 ;

徐宏俊 ;

杨宗有 ;

凌珏 ;

黄钰 .

中国专利 :CN115574738A ,2023-01-06

[6]

一种光学三维测量方法、装置、设备及介质 [P].

马帅 ;

朱绪胜 ;

陈代鑫 ;

周力 ;

张文权 ;

樊娜娜 ;

黄崇权 ;

蔡怀阳 .

中国专利 :CN119444826A ,2025-02-14

[7]

一种基于振镜扫描三维测量方法 [P].

孙小荣 ;

张爱爱 .

中国专利 :CN120777986A ,2025-10-14

[8]

一种多测量模式的三维测量方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN106441200A ,2017-02-22

[9]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

川末纪功仁 ;

大宅雄一郎 .

中国专利 :CN1860345A ,2006-11-08

[10]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

新山孝幸 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

中国专利 :CN113767263A ,2021-12-07

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