一种用于多功能微波组件的自动测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021463766.0

申请日：

2020-07-23

公开(公告)号：

CN213041952U

公开(公告)日：

2021-04-23

发明(设计)人：

周进

申请人：

申请人地址：

050000 河北省石家庄市桥西区新石北路368号2号楼408室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

石家庄德皓专利代理事务所(普通合伙) 13129

代理人：

刘磊娜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-23	授权	授权

共 50 条

[1]

微波组件自动测试系统 [P].

欧云章 ;

刘畅 .

中国专利 :CN117517848A ,2024-02-06

[2]

多功能PCB自动测试系统 [P].

郑谦 ;

顾岗 ;

张荣 ;

许兵兵 .

中国专利 :CN203069520U ,2013-07-17

[3]

多功能自动测试系统 [P].

陆益军 .

中国专利 :CN101571823A ,2009-11-04

[4]

多功能自动测试系统 [P].

林瑞斌 .

中国专利 :CN2058247U ,1990-06-13

[5]

微波组件自动测试平台 [P].

卢德辉 ;

杨志谦 ;

蒋健乾 ;

肖海红 ;

侯双 .

中国专利 :CN301882132S ,2012-04-11

[6]

多功能标准源自动测试系统 [P].

余子健 ;

史淑娟 ;

董亚峰 ;

张银福 ;

施秀明 ;

朱亚宜 .

中国专利 :CN2773711Y ,2006-04-19

[7]

多通道微波组件自动测试方法 [P].

林超然 .

中国专利 :CN104076214A ,2014-10-01

[8]

一种自动测试系统 [P].

付华伟 ;

邓相林 .

中国专利 :CN206573146U ,2017-10-20

[9]

一种自动测试系统 [P].

金一 ;

宋元斌 ;

史济平 .

中国专利 :CN204924179U ,2015-12-30

[10]

一种自动测试系统 [P].

崔同廷 ;

刘小雷 ;

魏芳 ;

苏雄 ;

赵晓博 ;

臧必俊 .

中国专利 :CN215599335U ,2022-01-21

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