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测试台及椭偏仪
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721132429.1
申请日
:
2017-09-05
公开(公告)号
:
CN207132855U
公开(公告)日
:
2018-03-23
发明(设计)人
:
彭小江
孟祥熙
郑旭然
潘励刚
黄浩
申请人
:
申请人地址
:
215129 江苏省苏州市高新区鹿山路199号
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
G01N2121
G01N2101
代理机构
:
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人
:
李姿颐
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-17
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20170905 授权公告日:20180323 终止日期:20200905
2018-03-23
授权
授权
共 50 条
[1]
一种椭偏仪的测试台面
[P].
贡江涛
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贡江涛
.
中国专利
:CN211528197U
,2020-09-18
[2]
椭偏仪用样品台
[P].
张达奇
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张达奇
;
吴华德
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吴华德
;
崔巍
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崔巍
;
吴坚
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吴坚
;
蒋方丹
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蒋方丹
.
中国专利
:CN211478040U
,2020-09-11
[3]
一种二合一的椭偏仪测试台面
[P].
刘蕾
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刘蕾
;
田晶晶
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田晶晶
;
何丽
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何丽
;
姚凌飞
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姚凌飞
.
中国专利
:CN218003238U
,2022-12-09
[4]
椭偏仪组件
[P].
邓思静
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邓思静
;
李兆颖
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李兆颖
;
周来平
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周来平
.
中国专利
:CN217542851U
,2022-10-04
[5]
椭偏仪
[P].
上原诚
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0
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上原诚
.
中国专利
:CN108431562A
,2018-08-21
[6]
椭偏仪
[P].
张宸睿
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
张宸睿
;
张丽娟
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
张丽娟
;
袁方琼
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
袁方琼
;
张宇帆
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
张宇帆
;
洪峰
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
洪峰
;
张雪娜
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
张雪娜
;
金灿强
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
金灿强
;
曾鸿
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机构:
深圳市埃芯半导体科技有限公司
深圳市埃芯半导体科技有限公司
曾鸿
.
中国专利
:CN115389022B
,2024-01-26
[7]
椭偏仪
[P].
张宸睿
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张宸睿
;
张丽娟
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张丽娟
;
袁方琼
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袁方琼
;
张宇帆
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张宇帆
;
洪峰
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洪峰
;
张雪娜
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张雪娜
;
金灿强
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金灿强
;
曾鸿
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曾鸿
.
中国专利
:CN115389022A
,2022-11-25
[8]
椭偏仪
[P].
林用賱
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林用賱
.
中国专利
:CN110542651A
,2019-12-06
[9]
矿用跑偏测试台
[P].
李良曙
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李良曙
;
李永干
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李永干
;
许少华
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许少华
;
董建国
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董建国
;
张保全
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张保全
;
王磊
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王磊
.
中国专利
:CN203595486U
,2014-05-14
[10]
样品台及具有该样品台的椭偏仪
[P].
孟永宏
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孟永宏
;
朱宗洋
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朱宗洋
;
王辉辉
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王辉辉
.
中国专利
:CN112066895A
,2020-12-11
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