裸电芯外观尺寸检测方法、电子设备、存储介质及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811009664.9

申请日：

2018-08-31

公开(公告)号：

CN109269419B

公开(公告)日：

2019-01-25

发明(设计)人：

赵大兵张俊峰叶长春卢韩毅

申请人：

申请人地址：

511400 广东省广州市番禺区石基镇金山村华创动漫产业园B10栋

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

G01B1114

代理机构：

广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288

代理人：

贺红星;高玉光

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-25	公开	公开
2022-05-17	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 登记号:Y2022440000077 登记生效日:20220429 出质人:广州超音速自动化科技股份有限公司质权人:中国工商银行股份有限公司广州科技支行发明名称:裸电芯外观尺寸检测方法、电子设备、存储介质及系统申请日:20180831 授权公告日:20220118
2022-01-18	授权	授权
2020-01-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20180831

共 50 条

[1]

裸电芯外观尺寸和极片纠偏检测方法、设备、介质及系统 [P].

张俊峰 ;

叶长春 ;

卢韩毅 ;

吴朝阳 .

中国专利 :CN109269420A ,2019-01-25

[2]

电芯外观检测方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

王通 ;

沈军才 .

中国专利 :CN119515840A ,2025-02-25

[3]

一种电芯外观检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

张俊峰 ;

黄家富 ;

谢朝明 .

中国专利 :CN116012294B ,2025-08-26

[4]

电芯顶盖检测方法、检测系统、电子设备及可读存储介质 [P].

张铭 ;

黄云龙 ;

陈曼 .

中国专利 :CN119023670A ,2024-11-26

[5]

电芯的封装检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

朱忠江 ;

刘绍鹏 ;

吴付军 .

中国专利 :CN118836803A ,2024-10-25

[6]

裸电芯外观检测系统的点检方法及裸电芯外观检测系统 [P].

屠银行 ;

段广跃 .

中国专利 :CN117782993A ,2024-03-29

[7]

外观检测方法、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

周正东 ;

张二坤 ;

吕炜俊 .

中国专利 :CN117969513A ,2024-05-03

[8]

裸电芯外观检测系统的点检方法及裸电芯外观检测系统 [P].

屠银行 ;

段广跃 .

中国专利 :CN117782993B ,2024-07-12

[9]

电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李海波 ;

牛茂龙 ;

才鑫源 ;

宋谦 .

中国专利 :CN118096765A ,2024-05-28

[10]

电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李海波 ;

牛茂龙 ;

才鑫源 ;

宋谦 .

中国专利 :CN118096765B ,2024-10-01

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