接口测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010052077.9
申请日
2020-01-17
公开(公告)号
CN111274131A
公开(公告)日
2020-06-12
发明(设计)人
葛晓静
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地西路6号1幢1层101D1-7
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人
孟维娜;马敬
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
褚慧慧 .
中国专利 :CN113778878A ,2021-12-10
[2]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王全胜 .
中国专利 :CN117724983A ,2024-03-19
[3]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
付艳梅 .
中国专利 :CN115509939A ,2022-12-23
[4]
接口测试方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
钱玉东 ;
尹江平 ;
徐仁柏 .
中国专利 :CN117493188A ,2024-02-02
[5]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李泽鹏 .
中国专利 :CN110569194A ,2019-12-13
[6]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
覃晓梅 ;
梁文生 ;
陈莹 ;
栗幸杰 .
中国专利 :CN119322740A ,2025-01-17
[7]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙伟 ;
姜婷婷 ;
付绘彬 ;
荣刚 ;
华亮亮 .
中国专利 :CN118035015A ,2024-05-14
[8]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
许光跃 ;
徐钰 ;
张辉 ;
周宇 ;
张后永 .
中国专利 :CN117667686A ,2024-03-08
[9]
接口测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
杨磊 ;
甘玮 ;
沈峰 .
中国专利 :CN119415398A ,2025-02-11
[10]
接口测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
王伟 ;
严文驰 ;
于润之 ;
张俊超 ;
骆燕杰 ;
杨幸 .
中国专利 :CN121144206A ,2025-12-16