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一种用于检测透明聚合物材料残余应力的测量装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110210001.9
申请日
:
2021-02-25
公开(公告)号
:
CN112834095A
公开(公告)日
:
2021-05-25
发明(设计)人
:
尚伟
邵蕊
王金芝
李升
胡本佳
梁化民
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市西青区津静路26号
IPC主分类号
:
G01L124
IPC分类号
:
代理机构
:
天津睿勤专利代理事务所(普通合伙) 12225
代理人
:
孟福成
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01L 1/24 申请日:20210225
共 50 条
[1]
一种用于检测透明聚合物材料残余应力的测量装置及方法
[P].
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机构:
尚伟
;
论文数:
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机构:
邵蕊
;
论文数:
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机构:
王金芝
;
李升
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机构:
天津城建大学
天津城建大学
李升
;
胡本佳
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机构:
天津城建大学
天津城建大学
胡本佳
;
论文数:
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机构:
梁化民
.
中国专利
:CN112834095B
,2025-03-07
[2]
一种用于检测透明聚合物材料残余应力的测量装置
[P].
尚伟
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尚伟
;
邵蕊
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邵蕊
;
王金芝
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王金芝
;
李升
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李升
;
胡本佳
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胡本佳
;
梁化民
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梁化民
.
中国专利
:CN214373027U
,2021-10-08
[3]
用于残余应力测量的方法
[P].
阿尔弗雷德·乔汉·彼特·哈斯勒
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阿尔弗雷德·乔汉·彼特·哈斯勒
;
豪默斯·格哈杰里
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豪默斯·格哈杰里
.
中国专利
:CN1261434A
,2000-07-26
[4]
一种基于相控阵超声的残余应力测量装置及其测量方法
[P].
张炯
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张炯
;
肖俊峰
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肖俊峰
;
高斯峰
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高斯峰
;
李永君
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李永君
;
唐文书
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唐文书
;
南晴
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南晴
;
高松
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高松
.
中国专利
:CN112362204A
,2021-02-12
[5]
透明聚合物材料微器件键合封装质量检测装置及检测方法
[P].
王小鹏
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王小鹏
;
陈天宁
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陈天宁
;
刘志华
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刘志华
;
高扬
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高扬
;
郭云龙
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郭云龙
;
马红丽
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马红丽
;
李欣欣
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李欣欣
.
中国专利
:CN102507588B
,2012-06-20
[6]
一种导电薄膜材料残余应力的在线测量方法及测量装置
[P].
顾一帆
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顾一帆
;
周再发
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周再发
;
黄庆安
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黄庆安
;
李伟华
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李伟华
.
中国专利
:CN106248280B
,2016-12-21
[7]
一种透明材料残余应力的无损检测装置
[P].
杨晓宇
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杨晓宇
;
衡月昆
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衡月昆
;
李兆涵
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李兆涵
;
王贻芳
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王贻芳
.
中国专利
:CN214427155U
,2021-10-19
[8]
一种结构残余应力的测量方法
[P].
张彦军
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张彦军
;
王新波
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王新波
.
中国专利
:CN103557971A
,2014-02-05
[9]
一种透明材料残余应力的无损检测系统及方法
[P].
杨晓宇
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杨晓宇
;
衡月昆
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衡月昆
;
李兆涵
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李兆涵
;
王贻芳
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王贻芳
.
中国专利
:CN113063534A
,2021-07-02
[10]
一种材料残余应力的光纤测量装置及监测方法
[P].
徐尧
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徐尧
;
王菲菲
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王菲菲
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肖盼
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肖盼
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柴全
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柴全
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田野
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田野
;
刘艳磊
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刘艳磊
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张建中
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张建中
;
张伟斌
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张伟斌
.
中国专利
:CN108871638A
,2018-11-23
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