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一种标准件外观质量缺陷光学检测设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121754819.9
申请日：
2021-07-30
公开(公告)号：
CN215727618U
公开(公告)日：
2022-02-01
发明(设计)人：
张雅涵
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市相城区太平街道兴太路88号
IPC主分类号：
G01N2101
IPC分类号：
G01N2188
代理机构：
苏州曼博专利代理事务所(普通合伙) 32436
代理人：
宋俊华
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-01 | 授权 | 授权 |