一种光学探头与电磁场测量设备及它们的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610466416.1

申请日：

2016-06-21

公开(公告)号：

CN106093599B

公开(公告)日：

2016-11-09

发明(设计)人：

张业斌田晓光王昌雷武帅张思敏盛永鑫

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号

IPC主分类号：

G01R2908

IPC分类号：

G01D530

代理机构：

合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124

代理人：

方荣肖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-11-09	公开	公开
2020-07-14	授权	授权
2016-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101690425382 IPC(主分类):G01R 29/08 专利申请号:2016104664161 申请日:20160621

共 50 条

[1]

电磁场测量探头及电磁场测量系统 [P].

田杰 ;

余鹏 ;

吴杨森 ;

陆德坚 ;

刘雪松 ;

李健晖 .

中国专利 :CN209764950U ,2019-12-10

[2]

电磁场复合探头、电磁测量方法和电磁测量装置 [P].

王磊 ;

骆成阳 ;

黄权 ;

李键坷 ;

邵伟恒 ;

路国光 ;

恩云飞 .

中国专利 :CN118604468A ,2024-09-06

[3]

电磁场测量探头、电磁场测量系统及控制方法 [P].

田杰 ;

余鹏 ;

吴杨森 ;

陆德坚 ;

刘雪松 ;

李健晖 .

中国专利 :CN109856462A ,2019-06-07

[4]

电磁场测量探头 [P].

徐升 ;

王林东 ;

袁迪 ;

石磊 ;

左钊鑫 .

中国专利 :CN304722278S ,2018-07-10

[5]

电磁场测量探头 [P].

徐升 ;

陈翠平 ;

李青刚 .

中国专利 :CN304722253S ,2018-07-10

[6]

电磁场测量方法、电磁场测量装置以及相位成像装置 [P].

久武信太郎 ;

永妻忠夫 .

中国专利 :CN107923933A ,2018-04-17

[7]

一种共中心的工频电磁场测量方法及探头 [P].

韩利 ;

钱勇 ;

吴杨 ;

刘建华 ;

陆德坚 ;

方济中 ;

宋玉晶 ;

张庆霞 ;

许心妍 .

中国专利 :CN117783690A ,2024-03-29

[8]

用于测量电磁场的测量装置和测量方法 [P].

亚当·坦基伦 ;

科比特·罗威尔 .

德国专利 :CN110161321B ,2024-07-16

[9]

用于测量电磁场的测量装置和测量方法 [P].

亚当·坦基伦 ;

科比特·罗威尔 .

中国专利 :CN110161321A ,2019-08-23

[10]

一种各向同性电磁场探头的修正测量方法 [P].

陆德坚 ;

张群涛 ;

左钊鑫 ;

张凯东 ;

万旭军 .

中国专利 :CN114217247A ,2022-03-22

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