IC条状基板的测试定位装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721889565.5
申请日
2017-12-29
公开(公告)号
CN207832828U
公开(公告)日
2018-09-07
发明(设计)人
梁大明
申请人
申请人地址
200135 上海市浦东新区自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301-642座
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R3128
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
铝基板耐电压测试定位装置 [P]. 
黄本顺 ;
李大鹏 .
中国专利 :CN210051795U ,2020-02-11
[2]
眼镜测试定位装置 [P]. 
周华晓 .
中国专利 :CN207095825U ,2018-03-13
[3]
音质测试定位装置 [P]. 
张奕瑞 ;
洪国洋 .
中国专利 :CN201282556Y ,2009-07-29
[4]
集成电路测试定位装置 [P]. 
王波 .
中国专利 :CN203643477U ,2014-06-11
[5]
铝基板耐电压自动测试定位装置 [P]. 
邵春华 .
中国专利 :CN213999199U ,2021-08-20
[6]
磁环测试定位装置 [P]. 
朱云青 .
中国专利 :CN215768663U ,2022-02-08
[7]
一种硅片测试定位装置 [P]. 
祝伟 ;
俞进宁 ;
华健 .
中国专利 :CN221495922U ,2024-08-09
[8]
晶圆测试定位装置 [P]. 
许根夫 .
中国专利 :CN208225861U ,2018-12-11
[9]
晶片角度测试定位装置 [P]. 
任先林 ;
沈克文 .
中国专利 :CN201945302U ,2011-08-24
[10]
一种便捷操作的测试定位装置 [P]. 
徐波 .
中国专利 :CN223362221U ,2025-09-19