数据测试的方法、装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810697068.8
申请日
2018-06-29
公开(公告)号
CN108920368A
公开(公告)日
2018-11-30
发明(设计)人
冯宇飞 杨慈航
申请人
申请人地址
100080 北京市海淀区知春路51号4层408
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙) 11706
代理人
陈龙
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
数据测试方法、装置、电子设备及系统 [P]. 
宋冬红 .
中国专利 :CN111722999A ,2020-09-29
[2]
数据测试方法、装置及电子设备 [P]. 
尹成 ;
陈少杰 ;
张文明 .
中国专利 :CN107704393A ,2018-02-16
[3]
数据测试方法、装置及电子设备 [P]. 
林宫利 .
中国专利 :CN115495368A ,2022-12-20
[4]
数据测试的方法及装置、电子设备 [P]. 
付祖贤 ;
杨晟 .
中国专利 :CN118940266A ,2024-11-12
[5]
数据测试方法、装置、介质及电子设备 [P]. 
刘伟 .
中国专利 :CN109634866A ,2019-04-16
[6]
数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
苏艾 ;
陈涛 ;
柯雄 .
中国专利 :CN113868141A ,2021-12-31
[7]
数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
苏艾 ;
陈涛 ;
柯雄 .
中国专利 :CN113868141B ,2025-02-28
[8]
数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王正峯 .
中国专利 :CN113780691A ,2021-12-10
[9]
数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
熊施 ;
谢家宝 ;
吴林峰 ;
刘道莉 ;
杨勇 ;
兰天 .
中国专利 :CN119690826A ,2025-03-25
[10]
数据测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱建华 .
中国专利 :CN111858927A ,2020-10-30